Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 36641|回復: 18
打印 上一主題 下一主題

[問題求助] poly fuse 的問題

  [複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2007-7-5 15:27:40 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
不知道發這個版對不對... ( @& H/ O5 p8 h) w6 i* E5 ?' C

0 n, ?& t, P6 J想請教版上有使用過 poly fuse 的前輩們..
* ?' b8 \# e4 H. A$ g- k5 f一般在 C/P 時要確保 fuse 燒斷的條件是如何?? 小弟目前有個產品使用 0.35um process 生產, 3 x1 v1 B4 ?# [$ w; y; i5 ~3 I6 M( e
poly fuse 區域 W=0.4um, L=0.8um, trim 的條件為 5.5V, 限流 150mA, 持續 70ms, 不過ㄧ個
1 p2 {2 e! _8 ^8 _/ R" q. u6 @8 u) Y  Vlot 生產下來仍有 2% 到 8% 不等的失敗比率 (從 log 看起來是沒有完全燒斷)...
3 h9 j7 E5 H9 ?! m& k2 w2 ]
  H0 z5 H* I" L5 a9 w' a1 L目前沒有什麼方向...不知道該怎麼解決說...
" j: h/ e6 w) P& \. ]: s9 _; Z: a  k) p' X$ b# u; L/ e
先感謝前輩們的分享..( D# l5 T) Q, e& [7 i( H
# L8 S, F; ]' n
以下是 Fuse & Trim 的相關討論:, k7 l! O1 h% T+ O
e-fuse?  
9 K, g! I- t4 ?poly fuse 大約多少能量便可以燒斷?   d/ R( `4 I7 v7 m9 w: E/ _1 P
如何判断poly fuse 已经blown  - G, e' l# O6 e( P
有關poly FUSE的不錯paper給大家參考  2 P9 s/ D+ I' o. m
Laser Trim
  A/ z; Y. _" a0 C( j做完laser trim後內部的電路被打傷的情況嗎?  . M2 _" |- d6 g7 n3 E: v! Y$ V4 j, ~
Trimming method?   ) Q  A- p. N: e. p; ~- y4 \; N8 A
Current Sensing Resistor Trimming!!   
8 o6 p: ^# `$ X9 s0 A8 E请教做laser trim的注意事项  ! T, N/ h0 H. v1 X2 F' `4 w( U2 X
Current trimming 要如何做呢?  : E% r- |/ r4 Y6 [- ]7 E

9 @8 a/ K9 i8 _6 ^- `" u% b# g( E: g4 b: `

' H/ K% f' ?$ ?
! J2 s* y! E9 }[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 06:39 PM 編輯 ]

評分

參與人數 1Chipcoin +3 收起 理由
monkeybad + 3 Good question!

查看全部評分

分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏1 分享分享 頂545 踩 分享分享
2#
發表於 2007-7-5 19:49:58 | 只看該作者
提示: 該帖被管理員或版主屏蔽
3#
發表於 2007-7-6 13:08:04 | 只看該作者
1.一般題高電壓是可行的,但須不damage device 為前題; .35 應可耐到至少 7V 不會 break-down 吧!?
7 Q$ K+ R1 I$ K8 ?- x" F2. Current limit 放大些,因為初期的做用會因為 R 小讓 current limit 限制了stress 的 power ( I^2*R << V*I; 因此時的 V已掉落至很低的電位了!
: q7 R. g) q/ r3 _; b結論: Current limit 放大至 CP 探針之限額內, V 提到最大且不會 break-down, trimming 的時間可以縮短很多!可靠度也可以改善!

評分

參與人數 3 +9 收起 理由
wpwang + 3 Good answer!
skyboy + 3 很實用的回覆, 謝謝..
mt7344 + 3 Good answer!

查看全部評分

4#
發表於 2007-7-8 23:07:08 | 只看該作者
poly fuse ...
  d  }$ h& V( W8 U- S6 s我看到的fuse 很少有用poly fuse
' L! d; f+ j$ D/ p; y) B8 H  Q通常是用metal fuse...6 q0 O, `; |. G5 C1 o$ R. O2 c
我以前看過有使用poly fuse
+ b0 F( a2 ^( Y+ V- k1.因為 process 是 0.6um 所以電流較大(about 350mA)
6 L* m. l* i" X. r! G4 w' K3 w大部分的fuse 都燒斷了,但是還是有一些無法燒斷: ~/ p. C9 W4 l  f. h7 I* |9 e3 x
有用顯微鏡看(0.6 um 還可以看啦)
6 y, B, D- U, S- }% f; V+ Z# v0 J發現到燒斷的地方形成一個節球,又短路在一起了, E2 R4 D1 Y9 b4 M5 u3 v# k2 a" Q7 g
才發現到layout 的形狀也是蠻重要的
: j% ~4 D+ O7 o, G, V最好要有轉角(電流集中)
- d% v# I- R8 q7 F0 ~8 D2.fuse 的地方通常會開window; w6 s- P- T. M: ^
......結果......水氣跑進去,原來燒斷的地方又短路了???# J8 H% F9 C3 C" F4 R) {
目前解決的方法是,封裝前要烘乾一次........
1 q' |3 ~( I! L
9 B9 ?5 E6 ?8 X2 |7 t- P' j3 b以上是實際的經歷,僅共參考

評分

參與人數 2 +6 收起 理由
skyboy + 3 很有用的經驗, 感謝分享..
mt7344 + 3 Good answer!

查看全部評分

5#
 樓主| 發表於 2007-7-10 21:55:34 | 只看該作者
嗯..感謝兩位大大的經驗分享..
$ Y5 [$ v8 i( B0 g- n
7 h" n0 G( w) {7 U/ o關於 ssejack1 大的建議, 從過往的 WAT 來看這個製程 3V MOS gate oxide 的 break down 電壓大約都在 8V 上下, 雖然 WAT 的 spec low 是只有 6V 啦 (foundry 的 spec 都訂得超級寬...) 4 C2 z: Y# _& ]5 T2 n
. B1 F2 z5 T5 S. b5 V
不過應該還是 ok, 所以我們已經修改測試程式提高 trimming 的 stress, 這幾天應該就會試試看...5 p" p* C1 [2 @! `5 s

9 B9 P: J! Z. Q另外關於 kkk000777 大的經驗, 有個可以分享的是, 我們之前針對沒有燒斷的 die 去做 PFA, 剝到 poly 那層發現就像大大說的一樣, 燒的時候是有熔斷, 不過又"流"回去了 (foundry 的說法) 就又 short 了, 而第一次沒斷要再燒就很難斷了 (應是因為阻抗變大, 同樣外加電壓下的電流就又更小了)...% Y1 s6 g& K0 F2 X, q# N* K

$ Q" ?4 d/ k; y% T3 X不過 foundry 的人說, 我們的 poly fuse 被 power ring 蓋住, 是造成 poly 燒完又搭回去的主因, 建議改光罩, 關於這點不知各位看法如何? 我是覺得不太能說服我, 就算我上面沒有 metal 蓋住, 也是有其他的 field oxide 以及 passivation 蓋住, 應該也有一樣的問題不是嗎??
5 Y2 Q/ j3 v+ |, S. N9 x9 {4 H' q  i2 |) j0 i1 q9 M
另外我再衍生兩個問題 (我問題真多.. )
% Y- J7 u" @7 Z, W6 }9 z$ D1st. poly fuse 與 metal fuse 有孰優孰劣 (可靠度) 的分別嗎?? 上次有個 foundry 的人跟我們說, poly fuse 的良率是很低的..(??) 因為我們使用這個東西的經驗並不是很多, 一開始就是用 poly fuse..目前有新產品在進行, 應該也會放入 trimming 的機制, 想了解一下業界在使用 fuse 上的一些習慣..
& Y3 e) z* n7 {9 W' ~  l- R: @
- ]- S, o$ ^7 M+ n* E2nd. metal fuse 除了面積較大外, 因為他燒斷時是"爆開"的, 會不會有 short 到另外的 pad 的問題?? 還有就是大大提到的水氣, 是否要考慮 package 品質導致日久也是會有水氣跑進去導致 short 造成的一些誤動作??  假如終端應用上是單價較高或環境較嚴苛的產品, 需不需要考慮這個問題??

評分

參與人數 3Chipcoin +5 +3 收起 理由
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 2 感謝經驗分享!
chip123 + 3 不怕問題多!怕的是沒人討論?論壇吶!

查看全部評分

6#
發表於 2007-7-12 20:40:26 | 只看該作者
1.關於poly fuse 的方面,其實我們公司已經放棄此做法
- @% o' t$ v1 X7 l3 i+ l   由於不是直接使用pad dirver , 是built-in buffer(nmos)
4 @. c5 P+ w, K% c$ B, ^; f   算起來還真的是不划算說,由於並沒有量產所以良率並不是很準確4 |' w( a5 c, L. z$ V( m
   但是工程樣品的數據大約 80% .
: M. j. o8 F* ]- K. ?  H# p$ U- v% L; B1 p( a- @" i/ ^4 W: }. C
2.metal fuse 的方面,目前的測試數據還算不錯,隨便都燒的斷
1 k  r& _5 I, N) p! H+ v   不過要注意layout , 多個轉角比較容易燒斷,也不容易熔回去6 P* h% w% j3 P. c+ S! y& E/ p

9 T9 W& i: A0 y/ N2 A- A2 d3.關於開window 的部分,也不知道是誰建議的(好像是fab. 的人)
: {1 }! V& Z# ~* c6 h. ?0 {, U   水氣就是會累積啊,真是XXX,害我drc 跑個半死....+ w) s. b6 h- D4 w+ U
; X# Q( ^5 C% m% c) b% d
4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考
4 m% l  C9 I& T% R, m+ F! a   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......
( H, D* [2 X) b" n   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的1 R7 A0 e& H2 \, [' Y# f/ M
   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),! z# m0 E9 f2 V! y0 u5 n' |
   面積當然省啦.....
( R. K9 H; ~, U( I( e   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以$ V# E* s: U1 i' R1 I. m& Y
   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給
) G% |8 h  g4 ]% Q- w   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看....

評分

參與人數 5感謝 +2 Chipcoin +5 +11 收起 理由
sam7186 + 2 感謝經驗分享
ssejack1 + 5 感謝經驗分享
skyboy + 3 實用的經驗分享, 可以嘗試..
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 5 感謝經驗分享!

查看全部評分

7#
發表於 2007-7-16 17:57:12 | 只看該作者
以前接觸memory時有使用poly fuse,修補率都有95%以上,影響修補率有許多因素,laser machine setting, fuse layout的條件都會影響,我這裡有一份Excel file有針對輸入不同條件如何選spot size與energy,focus以達最大修補率, 可發email跟我要

評分

參與人數 2 +8 收起 理由
wpwang + 5 人人為我,我為人人!
mt7344 + 3 學到不少!

查看全部評分

8#
發表於 2007-8-1 21:47:47 | 只看該作者
請問 poly or metal fuse 與 靠 MOS gate oxide breakdown 的 OTP 比較, 優缺點是哪些?
  ?" `; s6 [8 {Thanks.
9#
 樓主| 發表於 2007-8-3 14:12:36 | 只看該作者
原帖由 kkk000777 於 2007-7-12 08:40 PM 發表
1 u$ y/ l( k7 G' t9 A8 O' g+ i4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考
$ g% c7 k2 h1 T. }   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......' E8 [9 s/ f" \
   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的
0 I* N1 G6 ~' O. H( S   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),/ k: o9 t& @9 D9 _5 P* c
   面積當然省啦.....7 }: [  K9 C- \" c! t' S" R, r( i
   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以
- @, m* T) ]4 U8 k1 t. L   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給& V8 R) l- u% k# g
   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看...* J; m& B0 d& E$ d0 X
+ w( r+ z" g! U$ A) z
3 a1 {, x+ M6 e/ |, Y
看到 kk 大的回應才想到好像之前忘記聽誰提到過有這樣的 "偷雞" 法...
; ~  L$ n" j) W  s( I* N$ [嗯...如果是這樣確實可以節省很多面積, 用 metal fuse 的話也不用擔心
+ t0 E0 h: O: N( t6 U; X1 A' y水氣累積的問題 (D/S 後 trim pad 都被切掉了..)% S* R+ j0 |. w0 T5 }  ~

: ^0 ~. q9 y. F4 m+ ^5 L8 V不過 ATMEL 應該有他們自己的 foundry, 自己想怎麼搞都行...
; V& O* h3 i- h1 v; X- R" g手邊正好有個新 project 在進行, 看來是考驗我們跟 foundry 交情的時候了...
/ x: r- @2 V; c) A8 a3 A呵呵...
5 J2 a) i, z  W3 Q" u6 P) e+ i1 b4 O8 B1 F7 g2 ]
順便 update 一下情報, 後來我把 trimming stress 提高後 trim fail 的數目
& ]4 L( _9 U" @9 @" A: c7 P4 r就減少許多了, 不過因為只測了一兩批, 這個部份還會持續 monitor...
10#
發表於 2007-8-10 11:51:15 | 只看該作者
請問 各位高手
2 r2 g( D* k% r! m( n8 {9 i! A7 e   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?
4 z5 O$ b* \" n3 c/ k6 d謝謝
11#
 樓主| 發表於 2007-8-17 18:04:56 | 只看該作者
原帖由 wpwang 於 2007-8-10 11:51 AM 發表 1 Y% B" D6 t8 @; D- J7 @. a7 a
請問 各位高手
' S; u. C6 `. n: r   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?
. X9 G. ~7 ~6 S" P2 G  D  k謝謝

3 [) |- r- s( F) @: o- o4 m: O( W) \' Q
# F# S1 m% g5 c6 t您的共用是指用一般的 I/O Pad 來當成 trimming pad 嗎?? 還是說一個 pad 可以跑信號' h9 k! U( x' p( J* s' G' F
又可以用來 trim fuse??. U4 l! N4 c! R3 c( T/ S! i
, q' f( _8 S" k7 v% I
如果是後者應該是不行的吧....1 x* P. ?3 z. o* _4 |# Y
如果是前者應該也是不行, 因為一般 I/O pad 上會有 ESD 電阻, 會限制你 trimming 時的
2 I& J7 N9 i! Z3 D$ W- y電流, 所以一般大概都是另外畫一個 pad 給 trim 的 function 用...6 m5 n; T# W1 [- X

8 W4 |6 `1 i( t不知道是否有回答您的問題.......

評分

參與人數 1 +4 收起 理由
wpwang + 4 學到不少!

查看全部評分

12#
發表於 2007-8-22 13:04:35 | 只看該作者
有一問題請教,一般 metal/poly fuse (漏斗型橋接)的 trimming 效率以常理推論 , V/I source 只要題供的能量足夠,均可以燒斷!5 ]5 ]: O- B) V# h
最近有個 case 是 metal fuse , fuse 欲燒斷之橋接處呈 30~45 度橋接; 此形狀的 fuse 在trim 時電壓不能過高 ( typical 2.5V) 如超出個 200/300 mV 會造成trim完後又熔接的現像!!!..........真是無言..... : G" J8 W, k* S$ K/ s
不知那位好心的大大可以幫忙分析一下可能的原因?8 |6 v' N$ o6 d* c( o
先感謝啦!
13#
發表於 2009-3-6 22:17:43 | 只看該作者
不曉得您是不是問這個問題
3 X( t  M, ]$ c: s
9 \/ k! i7 A+ M; x我們家有的產品 trim pad 是可以 bonding 出來的
* L, G8 w/ Q! A7 z# T* ]8 x: F% J/ g) \
也就是 bond pad 與 trim pad 是共用的9 }8 W5 H; u: A; e4 [

8 \7 N9 Q" v. S' T7 d! d! F[ 本帖最後由 redkerri 於 2009-3-6 10:20 PM 編輯 ]
14#
發表於 2009-3-10 21:27:17 | 只看該作者
CP 時請測試廠用氣吹一下正在trimming die,應該有幫助良率上升(要有開窗的poly fuse),3 c2 `. u+ J0 g9 _! \
還有其偵測電路也是一個問題,因poly fuse,trimming 之後,可能呈open有可能呈高阻,且高阻trimming 多次也無用.
15#
發表於 2014-1-10 10:34:57 | 只看該作者
回復 3# ssejack1 ' b/ A" `. a( V* U0 W
3 W4 R  ]/ d9 {( {

, M3 ]! g; P; ?- [# n1 T    幫助不小, 謝謝!!
16#
發表於 2014-1-10 10:37:09 | 只看該作者
回復 4# kkk000777 5 e$ c/ e* J( c

' F2 _+ Y1 L7 `, ?$ h0 v: E/ q( O! w6 B. J, G2 P1 t) O! J
    封裝前要烘乾一次........很好的資訊, 謝謝!!
17#
發表於 2022-11-1 16:12:28 | 只看該作者
谢谢,学习了!!!!!!!!!!!!!
18#
發表於 2023-11-3 01:55:53 | 只看該作者
kkk000777 發表於 2007-7-8 11:07 PM
6 d# c- s# a4 f$ y8 |1 `+ Vpoly fuse ...+ h" U0 N& d8 `: ^/ Q; y
我看到的fuse 很少有用poly fuse
9 C0 O/ _' _0 D4 b: a+ Q通常是用metal fuse...
' B( e3 U# `& Y5 j) R1 F6 M5 L

: |: n$ I" Q( `  p0 P% d+ f+ w9 t& |, b0 k
很有用的經驗, 感謝分享..
3 l: S0 S' t9 Z7 O  A
19#
發表於 2023-11-3 01:56:26 | 只看該作者
Good question!
1 M- i! ?: g) }5 s" M
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-9-22 10:37 AM , Processed in 0.198011 second(s), 18 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表