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[問題求助] Latch-up for Bipolar CMOS DMOS 5V/40V

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1#
發表於 2008-5-12 20:31:02 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
各位大大:  M2 D; @2 j. U0 p- h; _; O

; ]+ w3 j# U- f& G! b2 R" X小妹我現在遇到Latch-up問題,fail情況都是直接燒毀,製程是BCD 5V/40V
; T; w2 j# M3 X4 ?$ n* B$ _% c請問我該如何作FA分析去解決這個問題?
1 q$ b  |) a$ Y$ O
7 z; v0 W$ n1 p" z: `) d現在正在焦頭爛耳中,不知道方向在哪?! l2 N4 j( ^; ]9 }2 S
希望各位大大能給點方向或意見可以提供小妹,謝謝!
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2#
發表於 2008-5-13 10:04:36 | 只看該作者
請問有長epi嗎?lacth-up有許多原因....
3#
發表於 2008-5-13 11:27:20 | 只看該作者
請問是哪家foundry的BCD製程?是哪個generation node process? 0.5um? 0.6um?...
4#
發表於 2008-5-13 11:51:59 | 只看該作者
1. 先 review layout1 o1 f. ~$ X; u& m: B: O5 o( |" f
2. 如果無法從 layout 看出,做亮點分析,妳的例子是直接燒毀,所以已經知道大電流路徑9 A: O& w  n. M, u7 s4 K
3. 就燒毀位置附近 layout 畫出可能之 latch-up 等效電路,看是哪邊寄生電阻過大,過大部分就接多一點 contact,或者寄生的 n,p type BJT 拉遠一點即可: }" N* y1 H$ X- L
以上是個人的小小經驗....
5#
 樓主| 發表於 2008-5-13 12:00:45 | 只看該作者
To Kokokiki:' s# ~9 m- K3 h
non-epi wafer* [& ^7 [# r4 {9 M7 p7 i: P
$ W. G% i# H8 I2 [/ T
To Tcsungeric:
' Y% m/ ]. }) d0.6um process
! E& Z  N! N6 m3 l, {" T: }' [. r, h: z4 j) f/ L+ p8 o
To 阿光:/ ]6 ?& R. Q& Q9 ^& G) r- b
目前都已確認過Layout,尚無找到問題
: }* Q, `" x4 B/ F! A: K! h) ]5 C6 K0 w2 |- E
" m, Q& ~  c; E, e. t8 G5 m* n5 ^; {
我們的設計是有內含LDO circuit,針對Latch-up是不是有哪些應該要注意的點呢?
6#
發表於 2008-5-14 11:59:04 | 只看該作者
做完Hot spot找到位置, 看位置附近 Layout,Device cross section及circuit操作方式加上偏壓,% r$ ?3 w$ u( G7 Y3 ^# M
看有為寄生bipolar 被 turn on . 注意 P/N介面 0.7V 就turn on.( t5 ^' h, a1 `5 P0 k
另外是高壓製程一般都有EPI.
7#
 樓主| 發表於 2008-5-14 22:14:08 | 只看該作者
抱歉,今天與晶圓廠確認,我們的製程是有 EPI 的
) n5 ^: ?7 Z$ G' x/ y4 u- A. Q- r: T+ b# a4 j. J
請問,高壓產品的 Latch-up 打法是否完全遵照 JEDEC-78A 的規範?3 L  c7 T+ h* \- v& ^: ?
Input pin 接 high 打一次,接 low 也打一次?7 r. O: g8 h" X3 e" C9 T- l
或是只要參考應用電路的接法去打?
8#
發表於 2008-5-15 12:16:06 | 只看該作者
如果是有epi,那P-sub(or n-SUB),阻值是相對低,比較有可能的是HV-device的well之間隔離不良造成.
+ f, t1 K! j. E/ w; ~可以在run-timing的狀況之下,用紅外線攝影(晶圓廠通常有)做高點分析,找到較hot的junction,做layout上的改善.
9#
發表於 2009-5-19 17:15:18 | 只看該作者
是漢磊的嗎?!' u5 J3 P$ c/ y% G; ~! u& h0 F; Z: R
加大Drain端到Gate的距離!!然後加大Contact Size!!; Y, J4 o1 K1 X4 R7 L
再不行就加Zener Protection!
10#
發表於 2009-5-20 13:21:34 | 只看該作者
在POWERMOS的GUARD RING 家厚,檢查LATCHUP 可能的路徑
8 b9 u. @- N. M6 @4 L有燒毀現象  就要針對該地方分析latchup發生原因.
11#
發表於 2021-8-26 13:36:17 | 只看該作者
受益'良多
3 x& U% o! T, N
, c3 C% s& R# k$ F謝謝大大的分享!!!!
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