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[問題求助] 加入T18 IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:24 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好
. e; a& r' z8 t( {
% R! N- s/ h$ }1 u4 F在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護* j( e0 C* m' }
9 v# P' Z: @/ X
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
* `: }0 z* L9 `
- m8 ^; {6 C; h3 Z+ Z: G) f造成LVS驗證顯示短路3 }! `% U% k2 r( A& X

8 Z; G; o: K4 B2 _因為用的是TSRI給的library
; ^/ h# B; t! \: r3 s/ Q$ y# z+ D. j* j+ X7 m/ Q) R! C% q' d
發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的* u- U0 @) T! ^( x0 t  r
& ^  |4 d' S1 Z
而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ2 S& e  E7 b4 l8 D  ?% Q7 y' \+ T
1 ?: @' e1 l7 a; w3 c. c- V
是stream in 的時候就有問題了嗎?
, |* W2 w; [% }  D7 j
1 s' p% m- O! l. O' v8 T( z請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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