10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom

活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。 0 f: V# w; M& @  X$ x. D: S/ e+ |		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。 - ~1 O# A$ N5 P( P6 N4 _
08:30-09:00 7 K. I% g: t, v	Registration and Welcome	13:00-13:30 - I: |# i4 ~1 s3 i& t	Registration and Welcome ) Q6 X: j8 g0 f( t! F( e
09:00-10:00 8 o( Q) k  P/ j9 S, F	DDR1/2/3的電氣特性規格要求	13:30-14:30 ( ~2 O- y/ K6 v9 w% O- R	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰 5 X# L* N/ o1 H0 l. i
10:00-10:30 ) F! c: b5 T% |0 {8 @	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧	14:30-15:00	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程 / N: Y/ ^3 H: U, L3 L% \$ f* W5 V# o
10:30-10:50 6 V* @6 ]. }1 S6 v. r; h; k	Break & Product Fair " M9 o& \2 Y& |/ f8 |	15:00-15:20	Break & Product Fair * ?% M' U$ v. M
10:50-12:00	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程	15:20-16:30 # K$ T( Z2 f4 D! S5 s2 o	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 5 d' {9 Y: f0 J
12:00-13:00 * L4 \2 L9 j$ [- p	Lunch 1 L! L! c0 E) [) i; F	16:30~17:00 6 l6 v+ Y1 Q3 l% W) Y2 @	Survey & Lucky Draw 0 l9 }7 Q& S5 ?# a; h# Z" i* R5 O! l