射頻晶片系統封裝量測實務研討會

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活動名稱 射頻晶片系統封裝量測實務研討會　

% Y6 L% m) B5 |; v5 n4 x參加對象 對射頻晶片系統封裝量測有興趣之師生及業界人士　

舉辦地點 行政大樓八樓視聽教室03B0803　
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2 q9 F- x2 s  m; P7 E1 `9 T舉辦日期 開始:2008/4/10 上午 08:10:00
       結束:2008/4/10 下午 01:30:00
  
! z5 K7 j7 s, f( ^. N報名時間 開始:2008/3/7 上午 01:00:00
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' c5 z* h( F& D1 N- J結束:2008/4/7 下午 11:59:00
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8 C8 U+ Z7 F. N  P# a報名總名額 80人
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: l3 j; `; i: @主辦單位 正修科技大學電子工程系所　
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指導單位 教育部
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活動詳細內容及課程表