逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
7 n, ~: N' @% X2 b# i時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
9 V( j( f7 r1 M  {6 Y* R$ Z(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
! {* f/ A  {! _地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
. J! d5 j4 i, X! W+ H# E! \         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
( z; C/ l. Q$ @" S2 o$ p; h(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
  f5 J* e" t6 @" \********************************************************************
主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
- T5 ?' e6 P8 `/ s" o7 n洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
# K; y& O1 r9 q7 F  h97年11月03日 (星期一)
+ O, L7 U) ^+ C. `時     間        活 動 內 容
8:30-9:00        報      到
6 t0 ~) N/ q8 O' m3 Z. O% B! J% @6 q9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
% a! _  t! K, J* y* N0 S! i9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
0 b  ?' }4 b9 y& G/ d主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1 g" g3 F0 s9 M; W. M1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
! w# u1 Z5 P, c2 i- \) F5 z3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
- Shielding
- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
, o' \/ r$ x9 e, Q- Power Distribution System (PDS) Design
  M, p3 n: p& K: t5 v0 X  q3 s/ o( n5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
- Measurements for Signal Integrity
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems

3 P7 V) \$ _6 Y7 Y
97年11月04日 (星期二)

$ {( `4 L. D+ n! b2 [3 X  V9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
電磁模擬範例分析
" P% }# O$ Q! D  E# T6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
•        WBFC Modeling and Simulation
•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
- General Noise Characteristics
8 l8 B' Q: Z( p9 U% j; e- Power Noise Study
- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
5 k5 E- t3 {; k) w% R�        Reference Plane change
3 ?1 ~) e* p, n1 j8 X8 i�        Trace near the Card Edge
. S+ [" [1 F& B! \# x' w& F, Z2 F7. Trend of EMC issues on chip-level
3 E9 I& T" L7 w; _5 B8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
& g: q4 a3 V7 \  F  Z+ v內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
8 ~( }7 w+ \+ T) f2 B) E1 u10. IBIS modeling vs. Spice modeling
9 F( }' F% Q1 B( a+ f1 ?11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
0 \$ M8 T! B2 x/ i5 b12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
1 g/ `5 \2 P! y. W1 A5 n•        New Challenges in Modeling and Measurements
$ f( k2 G1 X7 i# Q" w•        Loss Mechanisms and Their Significance
' a3 B; L4 @+ F$ J2 L' \•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
0 u( `" }% A; f+ x: ?•        Production-level Process Integrity Monitoring
13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
) {, p7 A7 f7 h0 t: G5 b給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

- `- |8 B: {. D1 f
好方法

* X# g' Q# c3 X3 {/ i可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
" r* u) Q0 o' |+ [0 e* O3 _
1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
  x6 G. _9 d! m& @: O4 U6． 如何消除串擾
7． 電源/地噪音的種類
) ^- q. ?2 G; v2 F8． 電源/地噪音的副作用
9． 如何消除電源/地噪音
10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！