10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom

活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

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DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。
08:30-09:00 % \* H) F( X* O5 R6 E3 M  z$ c	Registration and Welcome - e% e/ O" T! U8 a# z	13:00-13:30 . m# l, F3 l4 `4 R, g& b  `9 N	Registration and Welcome
09:00-10:00	DDR1/2/3的電氣特性規格要求 ( G5 l+ h' g+ f4 H	13:30-14:30	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰 1 S8 W2 @* |7 I1 y2 s% w  V
10:00-10:30 . l4 m" r( J- U0 Q( W/ o0 z	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧 7 w& q4 f4 k5 }* Q& ?5 S- d	14:30-15:00 9 {8 W0 v# f: |) h6 u& z	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程
10:30-10:50 ) c) x5 z" q& P. ?	Break & Product Fair : o, ^7 |! U4 W	15:00-15:20 ) `! ~' }# r' x	Break & Product Fair 6 c0 w! B! u( ^% j& u2 ]) g
10:50-12:00 # O6 i. c' v7 u# D" x0 z8 }	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程	15:20-16:30 + D( m2 K9 |6 s# t( D. K9 D2 Q$ D	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 & o# j  G1 |# {7 ?' r
12:00-13:00	Lunch	16:30~17:00	Survey & Lucky Draw

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