逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
" C8 L3 V( q5 U3 s3 |0 D( W時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
8 t  k9 D8 t- j* |2 O1 }, ~- I% X7 ]         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
4 l6 s3 c% y: g         本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
+ [9 ~. x% a* f- w% f) J. l洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
97年11月03日 (星期一)
時     間        活 動 內 容
' w- d9 k% c) Y6 M5 c# l8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
+ \/ N! W/ M' s0 |& A1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
% v! e5 I0 g( x. @- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
3. EMC之原理分析與設計技術簡介
; |7 I7 m$ j- g" L- Filtering
+ ^7 x% k+ B3 z* \  o2 H4 P- Shielding
- @8 b# v' V. o$ `! W  ^) f$ o+ S- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
- |! i8 d  |0 ]- Power Distribution System (PDS) Design
* o/ ^( _- Z  k) c5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
  a- M* x- z3 s- Measurements for Signal Integrity
$ o" W; E; }. V3 l. A+ y( y- Multi-Gigabit transmission over backplane systems

& P/ v; L( c4 ^" ~
97年11月04日 (星期二)
* j4 h, t4 h- [+ n. h* M+ N
; d+ V2 C; c8 @' o. D) H9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
6 j/ ]' j: h% E6 p3 p& c  h$ B內容包含:
電磁模擬範例分析
4 J2 E& t; H2 p6 r1 H9 F2 A7 P9 s6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
: N" w# f$ T+ J! p- g, s  E•        WBFC Modeling and Simulation
8 E0 L# W8 I/ g2 D, Y•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
- General Noise Characteristics
- Power Noise Study
- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
8 k' u- X. [0 j' g0 q�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
6 }/ C, v0 Y" r5 ~. z7. Trend of EMC issues on chip-level
9 R# U+ r& h! B8 A8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
% [" `  h( ]0 C8 V4 k, K* X內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
( ~, o5 |1 Y/ Z( R. \; U4 q* }8 ~10. IBIS modeling vs. Spice modeling
( f- d& C- j7 C+ Y( V11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
6 q  f! K% G, P$ I12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
4 C% R* G- i: d$ t•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
& `* u9 `( c) `, ^•        Production-level Process Integrity Monitoring
! D" q4 Z2 @+ P- m6 \ 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
$ Y; G( N$ \) Y( f4 U( t3 I7 g
, K, Z* }7 E% @9 c, t% m至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

% w3 Y4 z7 Q) U/ U  p+ r至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

& _/ T& z' t& v
好方法

) k/ Y* P1 W% K可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
0 c& M* f! _( y# F
1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
- o" u2 T/ F  o* }* s/ J3． 反射產生原因
3 {& A4 B5 ?( i; ~% a( {& T4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
7 v, ?0 U- e  y; P7 L& Z7． 電源/地噪音的種類
8． 電源/地噪音的副作用
9． 如何消除電源/地噪音
# o9 j* b) N0 M. h1 g* S! o10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！