全球高性能信號處理解決方案領導廠商Analog Devices, Inc.(ADI)亞德諾半導體公司近日推出具有整合型ADC驅動器的FET輸入AFE(類比前端)--ADA4350,專用於直接介接電流模式感測器(如光電二極體)和高輸出阻抗電壓感測器。ADA4350在單一封裝中整合了FET輸入放大器、交換式網路以及ADC驅動器。相較分離式方案,它可以簡化設計,降低功耗,PCB尺寸縮小50%以上。 ADA4350具備低雜訊性能,在10 Hz低頻下為90 nV/√Hz,100 kHz 時的寬頻雜訊為5 nV/√Hz,能夠將感測器輸出的信號雜訊比最大化。整合型增益開關支援寬動態範圍測量,可測量光子或電子等非常小的敏感信號。利用ADA4350內建可編程能力,設計人員可以選擇最佳化的外部回授元件。只需一顆晶片,便可將單端或差動感測器電流或電壓信號轉換為高速、低雜訊、單端或差動輸出電壓。 在分析測量應用中,可能需要監控強度範圍達數十dB的光信號。這就需要多種增益切換網路,它們常常包含多個外部放大器和類比開關,導致系統出現誤差的可能性加大。ADA4350整合了開關網路和輸入放大器,漏電流極小,並且允許開關網路最多選擇六個外部可配置的回授網路。在量測系統中,無論使用者如何調整儀器的輸入範圍,所有增益位準下都必須保持同樣高的測量精確度。ADA4350具有高阻抗/低Ib輸入放大器和序列埠控制的開關網路,因而非常適合測量較寬動態範圍的信號。該元件還能縮小PCB尺寸,同時大幅增加通道數,而不會產生熱密度限制問題。 ADA4350 FET輸入AFE特性
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