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半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy) V93000 測試平台獲 ISE Labs 矽谷及德州奧斯汀廠採用4 I9 ]8 L5 T1 e8 N. |6 B& ~% C" `, k
惠瑞捷 (Verigy) 憑藉領先業界的測試服務,將多功能測試系統應用於先進設計方法開發以及產量測試
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- j5 C% [" h9 P# ^9 _4 m2012 年 3 月 27 日加州庫比蒂諾報導 - 半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy)(Advantest Group 愛德萬集團(東京證交所:6857,紐約證交所:ATE)子公司)今天宣布ISE Labs 在加州費利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進 V93000 Smart Scale™ 數位量測模組以及 Pin Scale測試機種之測試設備,進一步擴展雙方對於測試開發服務的合作關係。
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L/ a: N3 z- ~: u雙方長遠結盟關係的最新計畫即為 ISE Labs 奧斯汀廠將開始採用惠瑞捷的 Pin Scale 技術開發先進的測試方法,針對最新一代低功耗安謀(ARM)架構伺服器處理器,搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 介面、消費性 IC 如智慧媒體晶片內建系統 (SOC) 設備,應用於下一代的媒體閘道器與機上盒。為達成上述目標, ISE Labs 奧斯汀廠安裝 L 級測試頭的 V93000 Pin Scale 測試機台,在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及 800 數位量測模組下,具備超過 900 個數位信號腳位供測試。
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此外,矽谷最大的半導體測試實驗室— ISE Labs 費利蒙廠 ,亦引進了兩台配備 Pin Scale 1600數位量測模組的 V93000 Smart Scale 測試機,用以測試客戶量產的IC。其中一套系統使用 Pin Scale 1600 以及 9G 數位量測模組,有超過1,000 個腳位的 C 級測試頭;另一個系統則配備惠瑞捷最小的 A 級測試頭,配有 512 個數位量測腳位以及 MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組。兩套系統均可擴充升級,提供增加數位量測腳數,或新增測量資源,如惠瑞捷的 Port Scale 射頻解決方案。ISE Labs 所採用的惠瑞捷 Smart Scale 技術,是矽谷測試服務供應商中的首創之舉。 |
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