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查明造成半導體器件損壞的電過載(EOS)事件的根源是有難度的,而EOS事件出現無規律性時難度會更大。 為闡明如何才能對EOS事件追根溯源,在此用一個實例說明我們是如何幫助一位用戶辯認兩種運算放大器(opamps)的失效原因的。
" P" J6 F. I, ^1 x5 l8 g- f8 r6 N- S8 c' P( ~
想要找 EOS 的相關資料!結果只找到這篇!!" q F7 r, r7 V" l* G: ^0 Z
資料有點老!! 但是! 也是他們經驗累積出來的!!/ F! I7 c/ v5 m: k2 D/ C) E
權限10 & 3RDB, 5 page!! 已經轉成繁體字了!!* ~/ R1 D3 s, p9 J
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Z& y/ [" S$ g[ 本帖最後由 mt7344 於 2007-6-21 07:25 PM 編輯 ] |
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