逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
1 E* g6 u5 G2 ?& K         活動內容：
- X1 `# B  W1 t& {) X" X4 `! g活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
6 k- S& c# X" ^% G8 s時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
6 _' w; r  {$ a9 @(二) 09:00－16:00: 訓練課程
8 y6 ]+ U" q6 A7 J) E7 M(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
- M' V/ l* R; M: a" h! u' B5 G: [地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
8 I( F, {# M! N) ?, }, Z         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
& |6 A* C* A1 U9 a0 ^% d( s, M, _         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
' `4 m7 j% p( K" B; `(2) 傳真至（04）3507-2117
! {/ \+ L% J9 X$ g& s         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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8 Q4 [3 r& s5 |' Q- j主辦單位：經濟部標準檢驗局
  @; `6 t+ Z9 ?( w- g, z承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
97年11月03日 (星期一)
) O" s4 J. E2 }6 i8 C& s時     間        活 動 內 容
* l5 ~2 Z. f' h$ P" q3 R: g8:30-9:00        報      到
- J( g$ m' X8 V: P4 G7 ~( Z! M9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
0 H5 H0 G( ~6 c7 M4 m) A' |7 J1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
" k1 @& T: M' s; x- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
* W% F5 @/ Z6 p8 `, ^. k3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
- Shielding
* b. y/ z" u! {( p4 N- PCB Layout
, f; A' ^) [6 M- }4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
- Measurements for Signal Integrity
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems


97年11月04日 (星期二)
* z* t  z3 y" b7 \
5 w! l+ X4 z$ g8 L9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
! B2 M  b, O+ C, I內容包含:
電磁模擬範例分析
% }- `" U1 j" }. k6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
•        WBFC Modeling and Simulation
4 X# X4 o" S/ i0 w" J•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
- General Noise Characteristics
8 m* v. o' P+ f- Power Noise Study
6 y( ?) u+ e# K  m1 f# Z" s* E# t- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
& x# S8 g6 ]( x* i�        Trace near the Card Edge
7. Trend of EMC issues on chip-level
9 Y4 I0 ~1 h6 y8. EMC design trend for chip-level
( ]$ c8 O, }' Y' u97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
6 X" ^; G/ q; R內容包含:
* \+ L( V7 B+ Y, t5 t9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
' R6 g7 J6 `& U8 O5 e12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
5 _' q1 J+ W' _2 O% s•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
- l# Q6 e# Z5 h, m, h& A1 F•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
) m; w" ?8 d7 b/ u# c•        Production-level Process Integrity Monitoring
3 `! ?2 i3 S5 f  I0 |: l5 M0 B 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
. Q6 A, k, d! M, {2 T- l0 l7 v回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
' P8 C4 k# x5 ~# u4 C
- y1 p* O% B: t& P至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
5 p- g  y' s- }% a' A9 B給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

7 `1 f! K6 z7 y% c7 O
好方法
0 r& B* x8 b8 Y3 a% t
4 T/ Q9 d* F* ~  |+ p) R6 Q7 L$ N可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？

1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
3 a# \, L# K( N$ g3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
% {; a9 n+ M" m. F) J7． 電源/地噪音的種類
8． 電源/地噪音的副作用
9． 如何消除電源/地噪音
10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！