如何量測op之noise對頻率的波形圖和一個op的輸出擺幅？

bancroft

最近在看op的paper，
有看到noise level(VN(Hz))對Frequency(Hz)的作圖，
noise level應該主要是thermal noise、flicker noise所造成的，
而其單位是寫（VN（Hz）），是代表著什麼意思？也就是他是怎麼定義這個noise level？
& X  f0 E4 f! U2 W而且不太清楚說Hspice語法要怎麼下，才能跑出noise對於頻率的關係圖？
# c; _5 k  K+ \# {0 F- w( }
; D" W: V+ n3 J( l另外還想問說關於op的最大輸出擺幅，要如何量測？

麻煩各位指導了，謝謝！！

li202

>單位是寫（VN（Hz）），是代表著什麼意思？也就是他是怎麼定義這個noise level？

2 B/ e9 ~7 L# q2 f' {
# Z5 o' B3 d8 r* A這表示雜訊量在頻率上的表現, 叫功率頻譜密度(PSD)，
) \5 j. l9 K' H) K
3 U1 O2 g9 a2 m雜訊是一種隨機的表現，但是有固定的平均功率，不同的頻率階段，每種元件會展現不同的雜訊量，用帶通濾波器將每個頻率所積分平均後，就得到的雜訊頻譜功率(PSD)

* G2 ~* n* X$ F至於公式，我打不出來，Razavi的類比CMOS書有提到，可參閱。

YuanII

以上圖是要測量輸出擺幅時的接法~

bancroft

原帖由 YuanII 於 2008-8-30 12:58 AM 發表
輸出甩福~
! D* U& s% [8 R拉成負回授
- l$ C$ m( c! e8 G+ @接上電阻
看VIN與VOUT的關係
& {: o* X, u% W7 i3 \! {0 Y8 Q; |2 M我記得是這樣^^

- G1 z) [5 X# Q' ~/ ?請問這是說明輸出擺幅還是noise的量測?
後來想到說輸出擺幅可以直接看op最後一級的部份，
* {8 s; O. Y0 n4 [2 O看mos因輸出的變化，其VDS的飽和極限，
" |/ U6 K) C* ~' ?& @% `* T9 h就應該可看出其輸出擺幅，請問是這樣來看嗎?

謝謝!!

YuanII

輸出甩福~
0 |9 B  s* Q! D4 h拉成負回授
( A* b- i0 Q8 j接上電阻
' ~% @9 k: q9 m看VIN與VOUT的關係
. a8 i6 ]/ [3 j- D, g# M7 J我記得是這樣^^