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[問題求助] chip power ring 电阻一般不超过多少?

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1#
發表於 2010-9-11 16:13:21 | 顯示全部樓層
回復 1# scy8080
! H# C& T, w  |! q1 K* c5 A1 S1 ^# l$ ]

* l' _4 ?  X0 ~   6 K, W0 t; I5 {1 P. A  u! O0 K
 以TSMC作为参考,90纳米以下要满足bus电阻小于1欧姆,90纳米以上要满足bus电阻小于3欧姆;如果不满足该设计规则,esd zap的时候
1 q# K. ]/ U( T& ^- @; i# B# p' i很可能打坏core里的device。% D1 Z$ T4 }) B, i  E- X
 
2#
發表於 2010-9-11 16:24:01 | 顯示全部樓層
最好不要超過 1 ohm,谢谢
- R6 O8 k$ Y- A& @超过1ohm, I/O元件大些,这个尺寸大小怎么&#2646 ...  S0 a. J9 p/ A5 a, t, ]( J: z
scy8080 發表於 2008-10-31 12:01 AM
% k& j$ Q9 @7 l$ p, E5 Y) [
  ?2 c( m% ^% q4 j

8 Z0 L0 C' e; _# vI/O元件大些有一定的帮助,但瓶颈不是在I/O元件本身的大小上,所以I/O元件大些起到的作用不是很大,比如diode,Ncs的面积大,实际上对diode,Ncs的交流导通电阻减小并不是8 O/ {; }' R0 D% _* |8 Q& ?  l! R
很明显,由于bus太长了,上面的IR drop太大,比如ead zap 2000v,有大概1.3 amps的电流,如果bus电流从1欧姆变到2欧姆,那压降就增加1.3v,而单从增大io的面积
' s/ M* ]9 ~5 c8 i. ?3 Y/ q8 w来平衡bus电阻的增大是很难的(再说成本上也不允许我们降io的面积做的很大),势必会对core device形成危险!
3#
發表於 2010-9-11 16:43:44 | 顯示全部樓層
还有一个问题,我们在做IO 管时,拉大CON到GATE的距离,大概3-4um,& ...
& w! E3 |8 b- dscy8080 發表於 2008-10-31 12:07 AM
5 [6 \; n% ]5 j5 w& r
/ U3 S9 v5 S' ~: t6 ^$ q/ g
拉大 CON到GATE的距离也只是拉大drain 端CON到GATE的距离,不会拉大source端CON到GATE的距离(同时一般会将salicide也去掉),
4 j1 z5 |" z  W其作用是增大drain端的电阻,相当于在drain端串联了一个电阻,起到在esd 冲击时保护自己不被打坏;能保证ggnmos下寄生的诸多npn管
/ y$ o* v" \) u8 h+ A(gdpmos下寄生pnp管)能够均匀的被打开,进入snapback状态,泄放esd电流;如果drain端这个等效的串联电阻不够大,寄生的诸多
" E- j$ z7 c5 anpn管(gdpmos下寄生pnp管)可能不能够均匀的被打开进入snapback状态,只是有的开有的没有打开,而esd的电流或者说能量是一定的,8 N. Q7 d( K2 n
必须泄放,电流在局部逐渐增大,出现二次击穿(热击穿),把device烧掉,我们通常看到的emmi图片上出现在source与drain 端的那道小
* ?9 }2 Q1 [4 M; P; x1 r3 x暗条或者drain端的小洞洞或者gate下的小洞洞,都是被烧毁掉的痕迹!

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