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Process: UMC 0.13um 1.2V/3.3V' `, ^6 K' {. W2 m3 z
使用faraday ESD I/O (spec 寫可pass HBM 2kV, MM 200V, CDM 500V)
% ^ {1 q) k( I/ V: ~目前情況: % |! x M4 e9 M7 [% x7 K N
, A f' F; l1 s) @5 B1 O! Y1 w/ THBM 2kV all pass,但所有 1.2V supply PIN(四五組,不同power domain)在做"VDD-VSS (+)(-) 的 MM200V" & "CDM 500V"測試都fail。其它組合都pass。有作初步FA分析,損傷似乎發生在內部電路而非ESD I/O 保護電路上,也就是說在保護電路未動作前,內路電路就受到破壞。0 v! ?1 L3 F5 d0 k
5 e4 r& B1 D' V) T+ t7 c9 d; [$ p請問是否有前輩可以指導一下方向,不知道要如何解決。謝謝!! |
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