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Tektronix推出全新的BERTScope機型以解決100G光接收器測試需求
1 O5 }! A; h; y# P新BSA286CL提供了業界最廣泛的精密抖動減損能力和極低的固有抖動等級
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【2014 年 5 月 30 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈,推出BSA286CL BERTScope誤碼率測試儀。BSA286CL是專為測試包括OIF-CEI、CAUI和InfiniBand標準等廣泛100G通訊標準所需的低內部抖動和精準的損耗需求而設計。
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: y9 |. n9 V6 @1 g接收器測試在100G電氣系統和矽測試中的重要性日益增加。隨著先進的矽接收器等化功能的出現,更高等級的抖動容限必須經過測試、除錯和加上邊際設定。目前為止,可用的位元誤碼率測試儀已無法產生必要程度的減損與夠低的基準抖動,有效地執行這些任務。BSA286CL是業界第一款完全滿足這些精確度減損和錯誤分析的要求,而且仍保有BERTScopes聞名的易用性。
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0 j6 [+ N8 K& `, b. I3 l' iInphi資深首席工程師Mark Marlett表示:「Inphi致力在光學技術領域中領導業界,無論是在100G及之後的範圍,我們需要可提供精確減損和更低雜訊的測試工具鼎力相助,來驗證效能是否符合如OIF-CEI3.0等關鍵規範。」
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2 N) Q9 j' g4 G! @, @4 n6 \當100G矽特性分析工程師測試其OIF-CEI-28GVSR系統時,必須要能在其BERT測試的精確度減損耗盡之前,先將零件驅動至接收器邊際故障。BSA286CL擁有完全重新設計的抖動減損系統,將先進調變技術狀態整合至100G實體層測試。 |
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