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新思科技推出DFTMAX Ultra 可大幅降低矽測試成本(silicon test cost)
6 t1 S+ ~3 W! y% n2 b0 H客戶能以更少的測試探針(test pins)提升壓縮能力(compression)達三倍 # S o, d7 R3 w, j0 A
0 X* P, F/ R$ f) O" Z$ J6 @(台北訊)全球晶片設計及電子系統軟體暨IP領導廠商新思科技(Synopsys)近日推出DFTMAX™ Ultra產品，此乃新思科技電路合成(synthesis-based)測試解決方案之一環，可大幅降低矽測試成本。內建於Design Compiler® RTL合成中，並具備新推出的測試技術，DFTMAX Ultra能提高壓縮能力達3倍，能同時進行數個裸晶(die)的測試，還能充分利用測試儀設備的最大效能，以減少矽測試時間。在不影響設計目標和時程的條件下，設計人員利用DFTMAX Ultra所帶來的優勢，能滿足嚴格的品質要求，並進一步降低測試成本。
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新思科技的DFTMAX Ultra包含最新開發的技術，可有效地讓經壓縮的測試數據在可測試性設計(design-for-test ，DFT)電路中流通，如此一來可降低達成優質矽晶生產測試品質所需的數據量。該工具生成(tool-generated)架構僅需較少的測試探針(test pin)，且在進行測試時能讓矽晶以較高頻率運作。因此，設計人員能同時進行多個裸晶的測試並降低每個裸晶所需的測試時間。為了達到優質品質和實現快速周轉(turnaround)時間，設計團隊使用DFTMAX Ultra以及新思科技Galaxy™實作平台 (Implementation Platform)工具套件，可在速度、面積、功耗、測試和產出之間實現最佳化的結果。 2 y; ?4 e; l& O
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新思科技實作事業群資深副總裁暨總經理Antun Domic表示：「新思科技在電路合成測試的領域居於領導地位，早在2005年即推出DFTMAX壓縮技術。與TetraMAX ATPG一同運作，能讓設計人員降低測試成本同時提升產品品質。這次推出的DFTMAX Ultra 是我們新開發的電路合成測試產品，能協助設計團隊以更低測試成本來達到更高品質的目標，同時滿足更為緊湊的設計時程。」 |
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發表於 2013-9-25 16:00:54
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