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[問題求助] 询问高压器件ESD能力评估方法

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發表於 2011-12-6 13:10:48 | 顯示全部樓層
本帖最後由 CHIP321 於 2011-12-6 01:18 PM 編輯
* W- `7 t: _% e% S/ E% k: C
1、高压(700V)反偏二极管的ESD能力如何评估?: & i5 a. f: p( u* a' `  u/ s2 g  u- i
我们用TLP测试过该二极管的I-V曲线,TLP电压打到1000V,电流只有0.14A。按照It2与ESD能力的对应,该Diode HBM能力只有200V多一点。请问这样理解对么?据以前敬仰,曾经有测试过高压Diode,TLP的It2很小,但是HBM测试能过3KV。请问这个怎么理解?高压Diode TLP测试不能代表HBM能力?
+ v8 _7 f5 ^' p! f* _2、越是高压器件,ESD就越不是问题。这个观点对么?
6 I9 |- \5 I# K( F# i6 ]" t9 P可不可以这样认为:ESD是一股能量,对于高压器件,比如700V反向二极管,只需要很小的电流就可以泄放掉大能量。因此,在没有电场击穿的前提下,高压器件抗ESD的能力几乎是不用考虑的。比如,一个耐压2KV的器件是肯定能过HBM 2KV的。这样理解对么?

, _  M$ j4 P/ J% }  g1 G$ K) [, E
( T; A' q; b! `4 b3 @  q  w! zANS 1,具体HBM值应当与TLP波形相关,若BV电平在1000V左右,It2在0.14A左右,不考虑测试时候寄生电阻误差(同时仅考虑单个器件的ESD测试),那么HBM值当小于1210V,TLP对ESD LEVER的评价应当是最精确的描述,当然价格也更贵些。
. K: w: \) Y8 N2 sANS 2,这个问题“通俗”的说是对的,但是就逻辑上来说,这是一个错误的命题。典型的例子就是您的这种情况。700V mos它的ESD能力可以轻易达到1000V左右,那么你说它的Esd能力如何?- z9 A: w' F; S8 e( `: L# Y
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PS1,目前HBM测试机台,误差在500V以内是很常见的,如果长时间没有校准,1500v的误差也可能出现。通常来说,用TPL逆推HBM值,才是DUT的ESD能力的准确评估。$ L  D2 ^* X, R
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PS2,通常HBM模型ESD PASS最大电压值等于1.5K*It2是因为通常亚微米管BV值在几伏特到十几个伏特之间,所以忽略掉这个值。若稍微修正一下,HBM=It2*1.5K+BV,从这里来看,BV值高会弥补It2较低的影响,但是却不是唯一影响因素。
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