7/12, 14 LTE市場趨勢與測試應用研討會

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時間：新竹場次: 2011 年7月12日(週二)　台北場次: 2011 年7月14日(週四)
- k, _( Y) e) u/ y% O1 L地點：新竹場次: 科技生活館 201會議室  台北場次: 集思台大會議中心 蘇格拉底廳
主辦單位：安立知股份有限公司、台灣區電機電子工業同業公會
參加費用：免費
- {8 u1 p% J$ q2 F本研討會提供：精美課程講義、精緻餐點，會後將進行抽獎活動。

簡介：
& ?! y0 Z6 l5 E( L7 [& l# ?長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲，是最被看好的行動通訊系統，在3G與4G技術的世代交替之際，正是群雄競逐商機的最佳時機。
LTE量測設備領導品牌- 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求，在LTE FDD/TDD上皆推出從RF到Protocol最穩定的解決方案，而承襲MD8470A新品MD8475A訊令測試儀，將首次在台灣亮相；想知道LTE測試是可以多麼簡單容易上手嗎？安立知竭誠邀請您報名參加，每場次僅限120位貴賓，欲報從速！
報名方式：線上報名：http://tinyurl.com/4xy6kal

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時　間 : R7 V- b" {) U! t+ E	主　題 5 U4 c: f- w; G	講　師
13:10~13:20	報到 # K" U0 `& M& O) d	7 F& T0 F" X. V
13:20~13:30 % q2 y4 t! c8 g7 X	開場 $ t3 F6 A& F+ w: O	* B$ v4 ?( B4 E9 o, l6 V / k* Z; g6 A; _7 [  {$ y5 M
13:30~14:00 6 [5 q9 B" p" }! f5 |( O	LTE Requirements for GCF and PTCRB 台灣檢驗科技股份有限公司 % e$ X/ L- r, q8 _0 R: X電子通訊實驗室行動通訊部門經理 ( s# i6 p8 }( ]! G0 K郭金興 Ben Kuo
14:00~14:30 ( ~6 T. [2 C3 Z	LTE FDD/TDD訊令測試解決方案 , N: q& u9 h- O7 S7 {	台灣安立知 2 V. N0 P! w$ S應用工程師 薛伊良 Petrushka Hsueh ! j" S' Y/ v3 D2 f
14:30~15:00 6 V) E" f5 ^  }0 R  f* M4 W# e8 [	All in One 人性化的手機應用測試解決方案
15:00~15:30	Coffee Break / b: C" b8 M& u* `/ ~, j/ {' h
15:30~16:10 ' _8 R8 r( W* d9 N	LTE連網展示- MD8475A	薛伊良 Petrushka Hsueh ) p6 @$ E: R+ y7 @% u! g; R( S
16:10~16:40 * r# p8 O5 k8 `. Q	LTE FDD/TDD射頻量測與自動化測試 ) D; z& y1 P+ p% u. S. M	台灣安立知 2 h# H% ?0 L* d技術副理 " h$ B) k, m$ u* M' c8 Q吳錫坤 Howard Wu % F/ ]2 g- N$ i2 a* m+ r: R) F
16:40~17:00 ; m8 G6 m) o/ r* K	LTE Calibration overview 7 A3 X; S1 F% W	台灣安立知 # J: E& I8 t: k3 H( N1 Z* N. C軟體工程師 王孝群 Enzo Wang 9 C7 m, `2 W: q2 Z
17:00~ 3 e. l6 m& {* c8 m3 o; B9 @	Q&A及抽獎活動 5 P4 J  m/ S. X7 ~* c5 ^* w, @	) [, Y; y' c7 b( U& D! ^- R

*主辦單位保留活動議程更動權利，若有變更將另行通知。
6 L8 ^- e' g8 {# G*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等，將以氣象局公告為基準，取消或延後本次研討會。