在產品發展週期越早測量電磁干擾，越有利於後期CE認證？

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【台北訊】羅德史瓦茲（Rohde & Schwarz, R&S）增加EMI量測應用選項於即時頻譜分析儀R&S FSVR與信號及頻譜分析儀R&S FSV上。此一新增功能讓設計者使用分析儀做EMI診斷和認證前的測量。在通訊產業、汽車產業、實驗室與學校的使用者皆可因此分析儀的高速及高靈敏度而受惠。

所有的電子產品在賣到市場前皆必須先通過當地法規的電磁相容測試認可，在產品發展週期越早測量電磁干擾越有利於後期CE認證。這防止昂貴的產品開發也確保即時上市。配備有R&S FSV-K54的R&S FSVR與R&S FSV讓待測物於雛型階段就可進行EMC測量。
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新的解決方案讓使用者就像處於EMC實驗室一樣的環境進行EMI特性分析。設計者可以分辨遮罩及修改電路設計的有效性。此新功能選項中的Spectrogram模式，顯示信號跟時間的大小及頻率。R&S即時頻譜分析儀有效的偵測零星的、中間的、窄頻的飄移干擾訊號，無間隙的分析從頻寬40MHz到40GHz。
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$ @9 g5 k; j/ u4 c4 G. `台灣羅德史瓦茲電話0800-889-669，網址：http://rohde-schwarz.com/product/fsvr。