Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 3549|回復: 0
打印 上一主題 下一主題

[好康相報] 3/8 Tektronix 與Ansys專家對話: 從仿真到測試的完整解決方案

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2011-2-17 15:09:13 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
時間 : 3 月 8 日
9 w. R, ~, O* d3 N; d7 V6 M地點 : 臺北 - 維多麗亞酒店 3F 宴會廳C區$ Z4 {- D' _, W# V* ?2 m8 v

% w1 q% n2 _( j& R$ e* P$ y這一次,Tektronix 與Ansys 的專家將攜手解決您在仿真以及測試上的所有問題!
- @! T' V' r2 z8 H
6 u2 h2 k+ u' n  L3 Y( `7 {如何在模擬測試中盡可能的接近真實的使用環境,是每個SI及R&D工程師所冀望的。測試設備及仿真軟體如何滿足使用者對於測試結果的需求及渴望,考驗著設備供應商所提供的解決方案之完整性。
2 `7 a* R! D" T7 V+ d$ Q1 S% }. u6 `5 X! U% b5 I0 K  ~
我們邀請了各路高手進行演講與展示: # _8 N& t! i0 D& z8 [6 X+ a4 p* Y

) M3 v' b' Q) F1 I' iAnsys - 高速串行通道的仿真與驗證6 p" t. v& [4 U0 H) J: Z7 K
在高速串列資料中熟悉如何進行仿真與驗證, 實現“設計 -> 仿真 -> 原型樣機測試 -> 再設計仿真”的完整閉環。
0 F" E4 ?- E$ m: h; VTektronix - 挑戰閉合的眼圖 - BERTScope在高速背板, 連接線之應用: M! `: h% `2 K0 [
在高速串列訊號通過如背板或連接線(lossy channel)後挑戰閉合的眼圖,利用手邊的儀器創造一個極佳的測試環境,為高速通道的設計者們提供完善的設計參考。 ! l! l$ {/ |0 O) K3 B" D
整合SDLA與TDR以進行高速串列資料測試9 X1 m5 p* b; E8 b& a! D. C
如何整合SDLA與TDR以進行高速串列資料的測試,分享給您最新的第一手資訊,替測試與仿真的相互驗證帶來了極大的便利性。  2 N8 a* D/ }) |( d& `# U# w3 `
+ \- m& V5 Z0 n: S* x7 d5 @, v
這些都是與您工作上息息相關的各種實用議題.請點選這裡 馬上參加這難得的講座吧!!
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-17 06:19 AM , Processed in 0.098512 second(s), 17 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表