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知識饗宴 空中相會 歡迎參加 4月1日 10:00 - 11:30AM 安捷倫科技中文網路研討會
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安捷倫科技誠摯邀請您參加將於2010年4月1日上午10:00-11:30舉行的中文網路研討會,主題為“新技術助您更快速和簡化FPGA測試和除錯”。
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) s! g5 N" a; G* j/ wFPGA晶片已成為數位設計中的核心元件。而Infiniium和InfiniiVision系列示波器正好是為除錯和量測FPGA而設計的,這些合適的工具對於類比、數位和新協議的分析都擁有優越的能力。這個研討會將介紹一些採用Xilinx FPGA的設計的量測例子。
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以下介紹是研討會有關FPGA設計和除錯方面的內容:
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2 k- h: x' B5 \) o! r4 a2 Y/ n1. 關於安捷倫測試和量測設備如何應用FPGA和ASIC技術的例子。. }0 X1 f/ i7 F; e, f
2. 利用混合信號示波器和核心除錯技術的基礎,以便快速量測(以秒計的) 內部信號新組合,但卻沒有停止FPGA的運作或改變裝置的時間。$ i! x# \2 f& K% I, u
3. 在30秒內設定示波器,以便觸發和解碼在FPGA和周邊晶片之間的串行通信匯流排。將會介紹的例子包括I²C、RS-232、SPI、USB和PCIe™。
u" s# T& G" U' ^, L% h4. 對高速串列訊號傳輸的特性。8 N& u0 {6 x0 y2 U5 z( |- A: M
3 B0 x2 E; `' |! ^7 R歡迎上網報名,免費參加研討會。如果與會學員希望在網路研討會舉行前提問,請在填寫登記表時把問題事先發送給安捷倫。在參加研討會後填交回函表的與會者將可參加幸運抽獎,贏取iPod nano一部。
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; n. ~6 \% g1 n6 D1 j7 p不要錯過與安捷倫科技專家即時交流的機會!
" {1 p9 G4 V* A! S9 b報名網址:http://www.eeplace.com/agilent/e ... IL&eventid=1683 |
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