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[問題求助] pll電路加入測vco的控制輸入的問題

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1#
發表於 2010-1-14 16:09:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
如題。有人會把charge pump跟vco之間的連線拉一端出來以便在量測時對vco做測試。
. S) ]+ }: b. p8 M, c! x但拉出來的線往往是造成pll不會動的原因!, q/ z9 g! s8 _: v6 o) Y
如果要拉出來需要在電路裡做什麼防止迴路失去穩定性的電路嗎?& E1 V2 g. B) Z/ u, [( H+ w
我想說若加兩個cmos傳輸閘開關,一個做為切斷迴路,另一個將vco的輸入端與pad相聯,這樣做是不是考慮不夠周詳?4 x; d" t. z% d8 f3 f
謝謝。
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4#
發表於 2010-6-12 21:32:37 | 只看該作者
一般來說若直接從charge pump and vco之間拉出一條來量測的話,那這條線需有ESD device,那樣子會增加你PLL l ...
; T. y4 \7 m6 P0 D$ Bfinster 發表於 2010-6-12 08:52 AM

& i- B1 i& G, @% _# _2 Z# s; c. R
! U- \$ p9 B" }% w: L. x$ W- R, d% A0 F; d( H) S
    恩,学习了~~0 k3 t0 K4 B+ q  a2 E, S& u
激动啊,finster大大消失一年多终于出现~~期待大大更多的回复和分享~~
3#
發表於 2010-6-12 08:52:18 | 只看該作者
一般來說若直接從charge pump and vco之間拉出一條來量測的話,那這條線需有ESD device,那樣子會增加你PLL loop的R and C,故而,除非你在設計PLL時己經精算過這些效應和預估值了,不然不建議你採用此種方式
5 D3 t6 ~0 i: \- W若真要量測此點電壓,建議採用unity gain buffer的形式來進行量測,一方面阻隔PLL loop被外界的ESD device的干擾,同時又能進行量測,而且也不用擔心在進行量測時probe loading的不確定因素所造成的issue
2#
發表於 2010-5-31 15:02:35 | 只看該作者
谁说拉出来会造成PLL不会动? 放心拉出来好了,单测VCO时,PLL的CP掉电即可。
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