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20萬元RMB尋求 大型積體電路老煉測試插座開發等
技術需求一:
& J3 B1 {5 S8 X$ O+ |! g% |5 Z1、需求名稱:大型積體電路老煉測試插座開發
7 n% \0 s* R% \3 C. L: O/ \2 u2、技術指標:7 L' f5 w# ^! l1 e
(1)解決≤0.5mm節距的產品設計、模具設計與製造難題;! ]+ ?/ W6 B# b% P% P
(2)解決≤0.5mm解決的成型工藝問題;$ h$ q/ D1 B4 p8 u& [( X9 N1 \
(3)測試老煉條件:-55℃~175℃;
" r( Z6 h8 w) Y' N(4)測試耐電壓500V DC;" _% C7 f( M; }: b h: a
(5)測試電流:1A~50A。
1 p) w0 s2 u$ J, ~. \) Z技術需求二:
* c {/ x; w: E. O0 g5 i9 }1、需求名稱:超高頻測試夾具開發5 l) m0 G. P* }, Y! L# x4 [
2、技術指標:≥20 GHz,100V DC,常溫測試。" I# @6 K$ {! d3 {8 k0 k
技術需求三:
6 k& C$ s8 I8 V3 `7 A1、需求名稱:鈹青銅熱處理技術0 d) b, v* t5 ~3 k! O
2、 技術指標:
d6 {, k, b" e, c8 g+ l(1)批次處理結果無差異;
9 B& X6 D" e: C2 e(2)10000次機械壽命後接觸件不變形,無裂紋產生,壽命後接觸電阻不超過初始值10mΩ。
" x, k. e; T: x4 u" l d& h+ Z7 u# Q) j' g9 y" A
合作面議。能者與意者請email研發簡歷與chip123聯絡。 |
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