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20萬元RMB尋求 大型積體電路老煉測試插座開發等
技術需求一:' }. s" J' A* r0 t
1、需求名稱:大型積體電路老煉測試插座開發
& B3 J; X/ c& m0 G, F2、技術指標:: e" i* J9 W, o/ M5 v' X* n
(1)解決≤0.5mm節距的產品設計、模具設計與製造難題;
' j! y$ m c, O8 {1 i% p4 _& c(2)解決≤0.5mm解決的成型工藝問題;
* A/ w. E5 l ~) W* I$ A- N(3)測試老煉條件:-55℃~175℃;& c Z( S- b* o. n& Q1 n- d
(4)測試耐電壓500V DC;: E! |( r% }2 A* m4 q
(5)測試電流:1A~50A。( r5 Z( E7 R" n; J6 @6 `+ c
技術需求二:
# M) {' U; `- A/ _, m& I8 _1、需求名稱:超高頻測試夾具開發
6 I4 @3 q# r9 h2、技術指標:≥20 GHz,100V DC,常溫測試。
) l2 m; _1 H) A# Y0 K/ R7 B; m- u技術需求三:
6 A, M4 a- y1 @5 w8 [1、需求名稱:鈹青銅熱處理技術$ Q i" f/ B+ n; ]
2、 技術指標:
% O0 e: B2 X" Z$ @4 Z3 n7 D. M8 X(1)批次處理結果無差異;. c; q/ ~. F/ |
(2)10000次機械壽命後接觸件不變形,無裂紋產生,壽命後接觸電阻不超過初始值10mΩ。
4 a1 w: j- z* S0 A* i. ]1 V, F, ] }% R8 Y; w
合作面議。能者與意者請email研發簡歷與chip123聯絡。 |
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