高速數位驗證的各種挑戰？到底哪種工作挑戰最大吶？

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Tektronix推出適用於100 G網路設計和測試的全新32 Gb/s多通道誤碼率分析儀
擴大市場領先的BERT產品組合，以其100 G LR4/ER4標準支援多通道測試所需的相干性光調變格式

4 A0 K5 f+ z9 l2 z1 I【2013 年 1 月 30 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，一系列新的高速碼型產生器和誤碼檢測器，可支援高達32 Gb/s的光通訊和串列資料通訊測試。PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器具有多通道碼型產生與使用者自定碼型編程功能，適用於類似100 G乙太網路這類的特定標準，多達4通道進行特殊的訊號品質範圍測試(Margin Test)。
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市場比以往更投入高速光通訊和資料通訊的開發，以因應像智慧型手機、平板電腦和視訊應用等需大量頻寬測試的不斷快速需求。資料通訊研究人員和設計人員也同樣需要高速測試設備，分析和測試光學和串列介面的特性，通常他們採用每通道10到32 Gb/s資料速率的多通道儀器。  
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; v' X8 y" P) F2 ?0 G+ a7 U對測試相干性光調變格式 (如DP-QPSK)，PPG3000系列可以其4相位對齊的通道搭配Tektronix OM4000系列光波相干性訊號分析儀使用，使光學設計人員即時優化和驗證相干性調變格式。

對誤碼率測試，PED3000系列可結合PPG3000功能，提供高達32 GB/s誤碼率分析與多通道支援，以便快速識别常見的多通道資料通訊架構的串音問題。例如，IEEE802.3ba標準測試，設計人員可以模擬4×28 G測試平台，為他們的接收器設計進行壓力測試。32 Gb/s的資料率輸出與抖動調整插入能力，使設計公司擁有業界最好的邊際功能、更高的產量和最佳的終端產品或晶片效能，順利將其產品推向市場。
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Tektronix高性能示波器總經理Brian Reich表示：「在BERT產品組合內加入PPG3000和PED3000系列，使我們能夠為客戶提供100 G標準測試的選擇。深入分析需要準確的訊號完整性，我們將持續提供我們屢獲獎項的BERTScope系列。新的PPG3000和PED3000的加入，能夠進行需要多通道資料對齊高達32 Gb/s碼型產生的BERT測試。

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多通道碼型產生
  c- V- I0 y6 Y! F$ F* m2 [0 B; UPPG3000系列共6種型號，包括30 Gb/s或32 Gb/s速度的一個、兩個或四個通道的機型。這些儀器擁有如同步和相位調整輸出和PRBS，或使用者定義的碼型產生功能，能靈活提供廣泛設計問題 (包括串音) 的疑難排解。隨著資料速率的增加，如100 G乙太網路這類多通道配置也變得司空見慣，串音儼然已成為主要的設計挑戰。
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多通道BER測試
0 m; E3 D; Z) S0 e( U  KPED3000系列使用一個或兩個通道的誤碼檢測器，能進行如100 G乙太網路這般多通道標準的全面性測試。該儀器結合優異的靈敏度 (30 Gb/s時可量測到<20 mV的訊號) 與業界最廣泛的資料速率 (範圍從32 Mb/s至32 Gb/s)。誤碼檢查功能包括PRBS或使用者定義碼型、DC耦合差動資料輸入、單端時脈輸入，以及自動校準輸入碼型。

靈活性，可用性
PPG3000和PED3000系列可單獨或搭配其他Tektronix儀器，作為完全整合的系統使用，為設計人員提供廣泛的資料傳輸速率、碼型、壓力和輸出位準，以解決一系列的標準問題。使用者可使用易於操作的觸控式螢幕圖形使用者介面，立即快速配置測試解決方案，此簡單的操作可縮短訓練時間並提高測試效率。

! _" {3 i2 ?0 Z3 l: v供貨情形
PPG3000系列碼型產生器和PED3000系列誤碼檢測器已於2012年12月推出。

ranica

Tektronix推出適用於第四代串列資料量測的全新30 GHz探測系統
新的P7600系列探棒為PCI Express® 4.0這類新興標準提供差動訊號支援

5 G3 S* t/ |8 V% X+ m6 }5 i5 K1 X【2013 年 2 月 4 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出業界最低雜訊和最高頻寛的30 GHz探測系統與同軸接頭。此款新的P7600系列探測系統具備探棒特定的DSP濾波器，可增強效能和降低雜訊位準。P7600系列探測系統搭配Tektronix DPO/DSA73304D示波器使用時，能提供連接性和訊號完整性功能，在PCI Express這類串列匯流排設計上量測高速差動訊號。
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; Q* x# }/ e, M4 P, P對於高速串列資料標準，設計人員使用現今推出的極細同軸線差動探測方法，以便更有效地在示波器上擷取差動訊號。此款新的P7600系列包括兩條直接連接的2.92 mm同軸輸入線，能夠將配對進入的差動訊號轉換到單一示波器的輸入通道，使所有4 DPO/DSA73304D示波器通道上都具有高達30 GHz的差動量測能力。有效利用示波器通道，能擷取多通道串列匯流排和 (或) 同時擷取高速資料及其他系統活動，例如100 MHz參考時脈或I2C晶片對晶片 (chip-to-chip) 匯流排流量。P7600系列還包括關鍵的TriModeTM功能，提供高速串列訊號的完整差動量測支援，以及透過同一個探棒連接進行的獨立單端和直接共模量測。此外，Tektronix也為其焊入式連接器提供了業界領先的30 GHz頻寛。

ranica

Tektronix高性能示波器總經理Brian Reich表示：「TriMode探棒提高了我們客戶的生產力，亳無疑問成為他們最受歡迎的工具 (設定探棒非常耗時，但TriMode探棒可加速訊號擷取速度)。除了廣泛的TriMode系列探棒外，我們現在擁有業界最快的TriMode探棒和超高性能示波器，以滿足客戶最嚴格的串列匯流排量測挑戰需求。」
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TriMode探測可縮短串列匯流排的設定時間，如PCI Express、串列連接SCSI和Thunderbolt需要共模和差動訊號量測標準測試的介面，提高了生產力。若要進行TriMode探測，只需將一條接線連到待測裝置，就可以在差動模式 [A-B] 和單端模式 [A-Gnd、B-Gnd] 之間切換，或按一個鍵完成共模 [((A+B)/2)-Gnd] 設定。
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為了透過該探測系統提供乾淨的頻率響應，新的P7600系列TriMode探測系統採用探棒特定的S參數資料。連接到DSA/DPO70000D系列示波器時，探棒將此資料傳送到可建立特定DSP帶通濾波器的儀器。探棒特定的濾波器對於日漸增加的頻寬來說至關重要，因為頻寬在30 GHz時，即使訊號路徑變化很小，仍會導致頻率響應的顯著改變。

3 {6 \: ]6 F" z: L( B供貨情況
7 D3 L4 e- U! M& Q8 AP7600系列探測系統 (含TriMode功能) 現已於2013年初 (第一季) 全面上市。

ritaliu0604

提供整合、靈活且易於操作的平台，進行深入的高速串列和DDR記憶體匯流排分析
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  y- A" V/ V0 s9 I9 h% G7 v【2013 年 2 月 19 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出適用於該公司高性能示波器DPO/DSA/MSO70000系列的全新Serial Data Link Analysis Visualizer (SDLA Visualizer) 套裝軟體。致力於新一代高速串列標準的設計人員，可以使用SDLA Visualizer軟體來指定其連結、移除嵌入量測路徑的任何元件、模擬虛擬連結元件，以及在串列資料系統、模組或晶片組的傳輸線上運用等化技術及進行多點量測。

設計人員在進行實體層特性分析、除錯，以及與電腦、通訊和記憶體高速匯流排相容性測試時，SDLA Visualizer軟體使他們能夠自信地模擬實際訊號的完整性效能，因而可大幅縮短設計週期，加速關鍵設計專案決策。
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Tektronix高性能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著串列資料和標準記憶體變得更快、更複雜，設計人員需要新的更強大和更靈活的工具，以準確分析待測訊號的特性。SDLA Visualizer軟體的客戶不僅獲得了先進的模型能力來驗證是否符合串列標準，而且也能在特性分析、相容性及除錯環境之間達到無縫接軌。」

& t. \& W- l# Z0 w9 `) p從USB 3.0開始，最新串列技術需要能考量到所有網路元件、量測設備，以及特定矽晶IP模型的先進連結分析軟體。同樣，需要在系統執行更快連接的嵌入式設計人員，也面臨了在所需測試點探測訊號的挑戰，而且必須移除反射訊號和其他影響因子，才能看到真實的訊號。

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為了滿足這些需求，SDLA Visualizer軟體提供完整的4埠模型，為發射器輸出阻抗、示波器和接收器輸入阻抗，以及通道和治具阻抗，儘可能提供最真實的訊號呈現，這可以透過連結中的每個元素的反射、插入損耗和交叉耦合等項目完成。此款軟體還可讓使用者驗證和除錯隨選個別連結項目上的S參數，節省了使用者的時間，並在連結中的任何測試點提供逐一比對 (element by element) 或可見性。
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另一個關鍵的挑戰在驗證連結模型。SDLA Visualizer使繪製一套完整的圖變得更加容易，其中包括頻率響應、相位響應和所有16個S參數的圖，而新增的可用性，可為所有連結元件提供常用的使用者介面，讓使用者能靈活定義多個測試點，而不必為每個測試點建立不同的連結模型，若搭配DPOJET抖動和眼圖分析軟體使用，使用者便能同時在多個測試點驗證眼圖和抖動結果，使其有信心正確地配置模型。

IBIS AMI 模型整合
; G  I8 t) O# r/ P! y0 ~為了更容易運用在特定矽晶IP模型，SDLA Visualizer軟體開發超越參考接收器等化的技術，提供整合特定供應商接收器的等化和時脈還原演算法，協助配置和定義連結模型。這些通常是根據串列實體層 (PHY) 連結的IBIS演算法模型介面 (IBIS-AMI)模型標準。
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專為系統級高速電路設計的EDA模擬軟體領先供應商SiSoft公司執行長Barry Katz表示：「系統設計人員在PCB出廠前使用IBIS-AMI模型來設計和驗證高速連結，準確建置模型是我們最重要的考量。客戶需要一個簡單的方法將模型運用到量測上，以在實驗室硬體上即時進行假設 (what-if) 分析。Tektronix以這款新的SDLA平台，奠定了訊號完整性的實驗室基礎功能，而這種整合標準將來會是一種常見做法。」

1 N0 ^. a8 Z7 w+ b0 U6 }5 b* T7 r供貨情況
新的SDLA Visualizer軟體將於2013年第1季末提供全球客戶下載。

mister_liu

全球的電信業者皆陸續推出LTE網路服務，然而下一世代的LTE-Advanced承諾將達到更快速的行動網路連接能力皆歸功於載波聚合技術，R&S推出的CMW500通訊協定測試儀全面升級支援LTE-Advanced載波聚合測試情境，其解決方案將幫助晶片商及網路設備開發商加快商品推出的腳步。
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+ M8 Z# U+ ?  f. u8 H; R# L! _Rohde & Schwarz寬頻無線通訊測試儀現在推出全新LTE-Advanced下行網路載波聚合軟體選項，載波聚合技術可以讓電信業者更靈活的針對不同頻寬的頻段進行組合，大幅增加頻譜的使用率；於下行網路，無線網路設備在LTE-Advanced網路中可以同時與兩個基地台進行連接，於下行網路即可達到300 Mbps的高速資料傳輸率，已經實現了LTE- Advanced初步部署階段的40 MHz的總頻寬，而現行LTE網路最大頻寬為20 MHz。
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R&S CMW500讓所有晶片的開發商於下一代無線網路產品開發時，可依據LTE-Advanced Release 10進行測試情境定義，包含了實體層、協定堆疊及傳輸量的測試及驗證，電信業者所需的任何情境都可以在實驗室中模擬及測試，LTE-Advanced網路的所有頻段及頻寬的組合皆可進行兩個基地台下行網路的載波測試，包含MIMO 2x2及4x2。

CMW500可模擬LTE-Advanced網路下的兩個基地台，透過結合兩台R&S CMW500即可進行LTE-Advanced網路的交遞（handover）測試，這樣開發者即可驗證無線網路裝置於LTERelease 10下行網路載波聚合的連續覆蓋行為；這個解決方案對於晶片商或網路設備晶片整合商未來於LTE-Advanced的開發有相當大的助益，而電信業者亦可對網路設備進行相容接受性測試。

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Tektronix 在 Design Automation Conference 2013展示 ASIC 原型設計除錯解決方案
; z! E2 P( c, l8 ^與會者將體驗到 RTL 模擬級可視性讓多個 FPGA 原型設計無需重新編譯，更快、更有效地進行除錯

【2013 年 5 月 15 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，將在 6 月2 至 6 日於美國德州奧斯汀所舉辦的 2013 Design Automation Conference (DAC) 會議中，展示近日推出的 Certus 2.0 ASIC 原型設計除錯解決方案，攤位編號為 819。DAC 是電子系統的設計與自動化 (EDA)、嵌入式系統與軟體 (ESS) 和智慧財產 (IP) 等領域首屈一指的盛會。
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首次在 DAC 展示的 Certus 2.0 軟體套件和RTL 架構嵌入式儀器，啟用了完整的 RTL 級可視性，並讓原型設計平台具備 FPGA 內部可視性功能，對 ASIC 原型設計流程產生了重大的改變。此模擬級可視性能讓工程師能在一天內診斷出多項瑕疵；相較於使用現有的工具，可能要花上一個星期或更長的時間才能達成。
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0 h( Y4 J5 s# n/ xTektronix 嵌入式儀器事業群總經理Dave Farrell表示：「FPGA 生態系統中沒有 ASIC 原型設計的主動除錯功能。DAC 與會者將會親眼看到 Certus 2.0 如何顛覆 ASIC 原型設計流程，並大幅提升除錯產能」。

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主動除錯策略

5 H- q  R/ }3 _- N3 NCertus 2.0 讓設計人員針對多個受FPGA LUT 些微影響的FPGA ASIC 原型設計中各個FPGA，自動檢測其中可能需要的所有訊號。這使主動除錯和檢測策略無需重新編譯 FPGA，即可針對每一個新行為進行除錯；相較於使用傳統工具，通常要耗費 8 到 18 個小時的冗長痛苦過程。下列為其他的主要功能：
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•        按類型和實體名稱自動識別和檢測 RTL 訊號，包括正反器 (flip-flops)、狀態機器、介面和列舉類型
, p& V- W# e6 \! ^' v4 _4 z. s* l% {•        無需特殊的外部硬體或消耗 FPGA I/O 資源，即可在晶片上以高速擷取並壓縮許多資料
•        進階的晶片觸發功能，將邏輯分析儀的觸發方法引進嵌入式儀器
! x) ]0 m5 `9 m•        跨時脈域和多個 FPGA 的時間關聯擷取結果，提供整個目標設計的全系統視圖
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# J# Y& N% D+ j# T) I5 BCertus 2.0 可以在不需要任何特殊的接頭、纜線或外部硬體的情況下，在任何現有的商業或客製 ASIC 原型設計平台上運作。

tk02561

Tektronix 推出業界首個適用於全新 10 Gbps SuperSpeed USB的測試解決方案
% I& m9 g4 N2 f# h# u+ v6 [- Q* K亦帶動出全新除錯、自動化測試工具，有助於縮短 USB 3.0 產品上市時間

4 |! Z; `( r- W& W# p& T+ T% g- |【2013 年 7 月 5 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，已增強其USB 3.0 測試解決方案多項新功能；包括，業界首個針對SuperSpeedPlus 10 Gb/s規格的發送器測試解決方案。其他增強內容則有以示波器為基礎的層級式解碼新功能，以及適用於SuperSpeed USB發送器的增強自動化解決方案，可提升測試輸送量達六成。

USB 3.0較快的資料速率帶來新的測試挑戰，最顯著的是增加通道損耗、降低訊雜比、更複雜的連結訓練，以及必須驗證的時序需求。隨著設計空間縮小，具備一個精確和特定標準量測系統，較以往更顯重要。Tektronix SuperSpeedPlus USB 測試解決方案 (選用配備SSP) 能完全滿足所有的上述需求。

Tektronix高效能示波器部門總經理Brian Reich表示：「如USB 3.0這樣重要的業界標準隨著時日在演進發展，我們的測試和量測工具也要隨之進行革新，這一點是很重要的。我們USB解決方案的最新增強功能，是讓工程師可以確認是否符合我們最新版的USB規格、縝密地解碼匯流排運作加快除錯作業，以及在執行自動化相容性測試的同時大幅縮短測試時間」。

在緊迫的時間限制和日益複雜設計的情況下，工程師需要能跨匯流排多層級作業的彈性工具，以便能更快速地找出問題。Tektronix USB 3.0 解碼軟體具備特定通訊協定觸發、簡易使用搜尋和導覽，以及多層級解碼等功能，可有效簡化除錯作業。讓使用者可在同一螢幕上，輕鬆在通訊協定堆疊以及與類比波形關聯的完整時間中導覽。

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全新的TekExpress USB 自動化軟體 (選用配備 USB-TX) 善用Tektronix 多年來的USB 相容性測試專業知識，並同時納入提供大幅改善效能的全新軟體架構。客戶將看到縮短六成測試時間的改善成果。例如，先前需12分鐘完成的 USB 3.0 Tx 測試，現在使用全新的TekExpress 軟體測試約需5分鐘即可完成。
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USB-IF總裁兼營運總監Jeff Ravencraft 表示：「預期到2013年底將出貨超過5億個 SuperSpeed USB產品，USB 仍舊是主機與周邊設備通訊互連的主流產品。所以，如Tektronix這樣的領導測試和量測設備提供商，他們的支援將非常重要，這樣才能確保我們的成員公司能快速推出認證的USB 3.0 產品和解決方案」。
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7 L5 I$ |; m: m2 M9 k6 Q6 W8 [3 C價格與供貨情形
自2013年7月起，即可自www.tek.com 網站下載全新的 TekExpress USB 3.0 發送器測試軟體 (選用配備USB-TX) 和 SuperSpeedPlus USB發送器測試軟體 (選用配備SSP)。
全新的SuperSpeedPlus 發送器測試軟體 (選用配備SSP) 則於2013年7月下旬可自www.tek.com 網站下載。

3 D0 y  B2 d! j( m針對擁有 DPO/DSA/MSO70000 系列示波器並搭配選用配備SR-USB (自2013年7月起提供) 的客戶，USB 3.0 解碼軟體將為免費升級產品。

mister_liu

增加業界首部多功能32Gbps線性等化器；強化適用於接收器測試的多通道BERT；將發佈適用於CEI-28G-VSR發射器測試的自動相容性測試套件
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【2013 年 10 月 11 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，對儀器和軟體系列進行重大擴充，為從事100Gbps通訊系統電測試工作的設計人員提供支援。本次推出的內容包括：LE320，這是一款具有2組差分通道9 Tap線性等化器，所支援的資料速率可達32Gbps，可作為BERTScope接收器測試系統的一部分；用於PPG/PED多通道誤碼率測試儀 (BERT) 的新選項，可在高達32Gbps的資料速率條件下提供訊號減損和輸出調整與全新的40Gbps誤差偵測器機型；以及選項CEI-VSR，此選項可自動化DSA8300取樣示波器以執行CEI-28G-VSR相容性測試。

; ~: x% q9 c. h( Z& S% c4x25G測試的需求對於從積體電路設計轉向接收器和系統設計的產業來說，變得更加重要。設計人員正在開發資料速率可達100 Gb/s (將使用四個25-28 Gb/s通道提供) 的創新網路元件。設計挑戰在於在印刷電路板上傳輸這些高頻訊號，即使是短距離傳輸。LE320為測試工程師提供了多用途的輸出訊號調節和可調輸入均衡等化功能，以建立適用於測試四個25-28Gbps電通道的最佳系統；這是對增強的PPG/PED碼型產生器和誤碼偵測器產品線多通道功能的理想補充產品。取樣示波器選項CEI-VSR將確保高效能和一致的相容性測試支援，使設計團隊能順利過渡至製造過程。

; c' h) e- q' y' ?& c6 qTektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著100G逐漸成為主流產品，我們的產品系列便增加了兩項重要內容，以應對晶片、轉換器、收發器和系統4x25G PHY電性測試領域的挑戰。針對接收器測試，我們不僅支援電通道建模和等化功能來強化BERTScope，也為多通道BERT增加了40 Gbps支援項目；而針對發射器電性測試，我們則為設計人員提供了適用於CEI-28G-VSR測試的自動化解決方案。」

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適用於接收器測試的輕巧和多功能32 Gb/s線性等化器
開發10Gbps或更快系統的設計人員需要位元於Rx輸入之前的等化器或位於發射器Tx輸出上的預加強模組。當速度增加時，能符合這些要求的12Gb/s以上儀器級訊號調節產品寥寥可數。業界領先的LE320將以用於提供100G通訊標準 (如CEI-28G-VSR) 所要求的高準確度誤碼率測試的9 Tap設計來支援資料速率範圍為8Gbps至32Gbps的訊號調節。LE320的創新遠端探棒設計能讓設計人員盡可能地縮短測試系統的電纜長度，同時可避免訊號劣化問題 (此問題在25-28Gb/s條件下極為明顯)。全新的LE320儀器級封裝採用Hittite所提供的自訂矽微波元件以減少元件數目，不僅提供了突破性的效能和多功能性，且其尺寸與智慧型手機相去不遠，而價格甚至低於低功能替代產品的三分之一。
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! T+ C7 h: k: L  w& g利用儀器級的可編程等化功能，LE320可配置為提供標準專屬等化功能，允許對其他閉合眼狀圖的訊號進行誤碼率 (BER) 分析。針對採用較低資料速率的客戶，Tektronix亦為20Gbps系統提供LE160機型，以滿足40G-KR4、14Gbps 光纖通道和16GbpsPCI Express 4.0等應用的需要。

適用於100G測試的多通道BERT功能
) X+ P6 b- \8 ~1 _# s多通道高資料速率標準驅動了對多通道誤碼率儀器的需求。加壓的接收器測試、四通道端到端BER測試以及串擾測試現在都包含在由轉向多個高速並行通道而推動的系列測試之中。Tektronix PPG/PED多通道BERT產品線現已提供擴展的抖動減損功能，全新的輸出調整靈活性和更高速的誤差檢測功能，更能滿足這些標準的要求。
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抖動插入選項的擴充範圍包括選項HFJIT，該選項現在提供BUJ以及RJ和SJ；以及高振幅/低頻率PJ，作為新選項LFJIT的一部分。同時推出的還有選項ADJ，該選項增加了具有快速上升/下降時間和低固有抖動的可調輸出，以滿足32 Gbps多通道碼型產生器應用的要求。支援資料速率可達40 Gbps、採用1或2通道組態的新PED4000系列誤差偵測器產品的推出增強了資料速率餘量測試。

mister_liu

更快速、可靠的CEI-28G-VSR相容性測試
針對光學互連論壇通用電氣介面 (Optical Internetworking Forum Common Electrical Interface，OIF CEI) 3.0 標準的實施協議規定了針對以 OIF 標準為基礎之裝置的測試和限制值。CEI-28G-VSR 屬於這些標準之一，其目的是用於可插拔光學收發器中的極短距離電通道。這些電氣介面必須滿足系統誤碼率 (BER) 目標的要求，且必須通過嚴格的測試和除錯週期。
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直到目前為止，執行所有需要的CEI-28G-VSR相容性測試和找出與抖動或雜訊的相關問題一直是難度極高且需要大量人力的任務。與Tektronix 80SJNB串列資料連結分析軟體的整合後，即可讓使用者進行更深入的除錯和時序根本原因分析，而無需變更儀器或量測設定。
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6 g* ?% s) E( ~4 d" B  x將選項 CEI-VSR與其Tektronix DSA8300取樣示波器搭配使用時，設計工程師能在5分鐘內即完成相容性量測；與手動替代方案相較之下，這可使測試時間縮短約95%。此外，選項CEI-VSR還可用於確定CTLE峰值的最佳化，以滿足CEI-28G-VSR主機至模組介面規範等標準的要求。設計工程師需從一組給定的濾波器中選出最佳的CTLE濾波器，並將其用於執行量測。如果沒有此項功能，設計工程師就需要花時間來手動判斷最佳的CTLE值，從而降低生產力。
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定價和供貨
1 ^; I1 W& e" o) ]' u0 `, BTektronix 32 Gbps LE320 和16 Gbps LE160線性等化器現在已提供客戶進行評估，並將於第四季開始全球供貨。適用於抖動插入的Tektronix PPG3000選項及全新的PED4000系列，兩者均將於2013年第四季開始供貨。選項CEI-VSR亦將於2013年第四季開始供貨。

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Tektronix 收購Picosecond Pulse Labs 位於科羅拉多州博爾德的高速測試儀器開發者 將可有效強化 Tektronix的 100G/400G 產品組合

【2014 年 1 月 24 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，收購Picosecond Pulse Labs。此舉旨在加強Tektronix在不斷增長的測試設備市場之產品組合，以支援100G/400G光纖資料通訊的研究和開發。

$ u# f* M( j+ x* yPicosecond Pulse Labs其總部設在科羅拉多州博爾德 (Boulder, Colorado)，提供了包括超高速碼型產生器、全球最快的脈波產生器和最高頻寬的取樣模組等產品。該公司最近推出了PatternPro產品系列，包括適用於100G/400G應用的多通道32 Gb/s資料產生器和分析儀。
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Tektronix總裁Amir Aghdaei表示：「Picosecond Pulse Labs擁有設計和製造尖端儀器的悠久歷史，並為高速光纖測試市場特別推出了全新的32 Gb/s的誤碼偵測器和碼型產生器。與我們的高速示波器等產品系列相結合後，Picosecond將可進一步強化我們在關鍵的100G/400G資料通訊業務解決方案的產品組合。」

mister_liu

最新的M-PHY接收器測試產品包括適用於HS Gear 2和Gear3、PWM模式、自動校準和邊際測試的完全支援
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1 m# Y& O4 a* H, J1 E, p% ?2 a【2014 年 1 月 28 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈，擴展其業界領先的M-PHY接收器測試解決方案的功能。附加的功能包括高速Gear 2和Gear3的實體層接收器測試、PWM模式 (G0-G7) 的支援、自動校準和邊際測試。以M-PHY實體層為基礎而開發下一代行動裝置的工程師現在可使用此解決方案來解決設計挑戰，並能輕鬆執行自動化相容性、產品驗證和邊際測試等程序，來克服訊號完整性問題。
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HS Gear 2和Gear3與PWM模式 (G0-G7) 的支援使設計人員能靈活地以完整範圍的資料傳輸速率來執行測試，全面深入瞭解其設計。高速裝置的自動校準支援功能降低了安裝的複雜性，可有效節省時間，並讓使用者能更快速地測試裝置。高速裝置的邊際測試可讓設計人員能驗證裝置，並對裝置執行壓力測試，激發其最大的潛能，進而產生有競爭力的技術規格。

Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「Tektronix的M-PHY接收器測試解決方案為設計人員提供了在產品開發階段早期找出設計和特性問題所需要的深入資訊。此解決方案結合了Tektronix示波器的量測精確度，可讓設計人員對其裝置的理論極限執行壓力測試、在自動化的環境中更快速地測試產品，並有效縮短產品上市的時間。」

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Tektronix 簡化了複雜的M-PHY測試
MIPI聯盟的M-PHY規格提供了一個低功耗、低成本的PHY解決方案，此方案具有可擴展性和足夠的靈活性，能滿足現有和未來的行動和消費電子裝置市場。藉由其多變的裝置、終端、振幅和高速串列資料傳輸速率等特性，M-PHY提出了一些在接收器和發射器兩端需要專用測試解決方案的測試挑戰。

7 D  i8 d, C. ~. a4 W, _2 \0 P7 OTektronix M-PHYTX/M-PHYRX自動化軟體與Tektronix DPO/MSO70000系列示波器搭配使用時，可涵蓋完整範圍的M-PHY發射器和接收器測試要求，並為廣泛的通訊協定解碼提供支援。在發射器端，測試設定和執行是完全自動化的程序，僅需要一台儀器即可完成。針對M-PHY接收器測試，將僅需要高效能示波器和AWG7000系列任意波形產生器等儀器。TekExpress自動軟體則為設定和測試程序提供了便利的使用者介面和直觀的工作流程。

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Tektronix MIPI M-PHY發射器與接收器測試解決方案，以及擴展的接收器測試支援服務現已提供。

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全新測試解決方案涵蓋了所有的HDMI 2.0 PHY和通訊協定測試 提供快速、一致和準確的結果
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- |* e6 \5 l# O; z8 M【2014 年 2 月 11 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈，推出適用於最新發佈的HDMI 2.0規範的全自動相容性測試和除錯解決方案。解決方案涵蓋HDMI 2.0發射器測試和以直接合成 (Direct Synthesis) 技術為基礎的接收器測試以及電纜測試要求，可提供快速、一致和準確的測試結果。
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作為受到廣泛採用的HDMI 1.4a/b標準的後繼者，HDMI 2.0規範旨在滿足即將出現的超高畫質 (UHD) 或4K電視的頻寬要求，同時使用現有電纜來提供向後相容性。這使頻寬顯著增加至18Gbps並增加了許多特性，如32個音訊通道和同時向多個使用者傳送視訊和音訊串流。如同先前的HDMI版本，相容性和除錯測試解決方案對確保該規範的成功實施也非常重要。

1 T7 r" X8 Z% \+ e) rTektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「作為HDMI 2.0測試規範的貢獻者和HDMI測試解決方案的全球領導供應商之一，Tektronix在協助客戶將超高畫質/4K電視和其他HDMI 2.0認證產品推向市場方面具有得天獨厚的競爭優勢。此解決方案採用可縮短待測產品上市時間的簡單、可靠測試環境，提供HDMI 2.0相容性測試支援並滿足電氣測試的相關要求。」
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與同類解決方案相比，Tektronix HDMI 2.0測試解決方案由於採用適用於發射端(Tx)測試的新自動化解決方案和適用於接收端(Rx)測試的直接合成方法，因而能顯著降低測試設定的複雜性。Tektronix解決方案不要求工程師設定多個設備，而是使用AWG70000任意波形產生器來自動產生所需的測試訊號和規定的訊號減損。這將可能使測試時間從數天減少至數小時。
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對於消費電子製造商、半導體公司和電纜製造商的設計人員和測試工程師而言，Tektronix HDMI 2.0測試解決方案由高效能硬體和整合式軟體組成，完全支援輸出和負載裝置以及電纜的所有實體層測試。完整解決方案包括MSO/DPO/70000系列即時示波器、HDMI相容性測試軟體、AWG70000系列任意波形產生器、適用於時域反射儀 (TDR) 的DSA83000取樣示波器、適用於串列資料網路分析的IConnect軟體以及測試治具。