96年中國電機工程學會 傑出電機人才得獎名單

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交大電子范美蓮同學榮獲中國電機工程學會103年度青年論文獎殊榮
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5 S5 p  `! ^1 f7 M) Q8 A(20141106 15:51:49)中國電機工程學會日前公布獲獎名單，交大電子工程學系范美蓮同學榮獲103年「青年論文獎」殊榮。
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+ q1 `9 g8 E* ^5 R交大電子系柯明道教授與臺灣師範大學電機系林群祐助理教授共同指導范美蓮同學完成「奈米互補式金氧半製程下應用射頻積體電路之靜電放電防護設計」技術，因提出了有效防護射頻積體電路免於靜電放電的轟擊，同時又不會影響原本電路操作的設計，而獲得中國電機工程學會青年論獎第三名的殊榮。
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中國電機工程學會，是我國最悠久的學術機構之ㄧ，為促進電機、電子、電信、資訊相關產業與各級學校間之建教合作，以培育產業所需各級人才而設置，並為獎勵國內優秀電機研究生，特設置「青年論文獎」，於每年會員大會時頒發獎金及獎狀。
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% G- g! @  ~; z1 F; L) U在現今的積體電路產業中，基於晶片整合度與成本的考量，射頻積體電路 (radio-frequency integrated circuits, RF ICs) 也逐漸傾向於實現在 CMOS 製程中。靜電放電 (electrostatic discharge, ESD) 是積體電路可靠度中最重要的一環，大多數電子產品的故障與損壞均與遭受靜電放電轟擊有關。而靜電放電破壞的產生，多是由於人為因素所形成，但又很難避免。

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電子元件或系統在製造、生產、組裝、測試、存放、搬運等的過程中，靜電會累積在人體、儀器、儲放設備等之中，甚至在電子元件本身也會累積靜電，而人們在不知情的情況下，使這些物體相互接觸，因而形了一放電路徑，使得電子元件或系統遭到靜電放電的肆虐。由於應用在通訊電子產品中的射頻積體電路對於任何額外的寄生效應相當敏感，因此能應用在射頻積體電路之靜電放電防護設計除了要有好的靜電放電耐受度之外，還必須要能將其寄生效應的影響降至最低。
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在該篇獲獎論文中首先提出了由傳統靜電放電防護設計修改並且無額外增加元件的新靜電放電防護元件設計。此新的設計採用堆疊的二極體 (diode) 並將矽控整流器 (silicon-controlled rectifier, SCR) 內嵌於其中並做為主要靜電放電之路徑。經由佈局優化能使得新的架構有更低的寄生電阻、低的寄生電容以及高的靜電放電防護能力，更適合做為晶片上的靜電放電防護設計。
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關於交大電子 ( http://www.ee.nctu.edu.tw )
) ?7 U9 F' l# A6 C" f. z交大電子系是交大創校及全國第一個電子科系，長久以來為交大第一志願科系、國內電子電機科系亦名列前茅，已經設立超過50年，開啟了台灣高科技的教育，也奠定了台灣電子資訊產業發展的基石。五十年來交大電子在師資、課程及設備上，不僅在國內首屈一指，並與世界最著名的科系並駕齊驅，深獲各界肯定。
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訊息來源：國立交通大學電子工程學系