KEITHLEY最新SOURCEMETER®儀器平台
+ Y+ Q# h4 }/ e1 [0 O! n6 N. Y提供業界最快最簡易的I-V特性分析
5 C) ^& Q- _) T) N# U
7 y3 B( S7 x% t台北訊 – 2008年10月6日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments; NYSE:KEI)發表2600A System SourceMeter® 系列產品。新產品操作簡單,且具備卓越的量測效能及彈性,能協助使用者加快上市時程、減低測試成本、並簡化高品質量測的作業流程。欲進一步了解2600A系列System SourceMeter的詳細資訊,請瀏覽:
https://admin.acrobat.com/_a16893448/p81871518/。
2 }- u* I( d8 F. e8 Q M/ [1 W/ O4 v; W/ I
2600A系列是Keithley備受肯定SourceMeter平台的最新版本。這款經驗證的平台將精確電源供應器、純電流源、數位電表、任意波型產生器、具量測能力的電壓或電流脈衝產生器、電子負載、以及觸發控制─全部整合在單一儀器中。
/ E$ ? T0 D6 b5 O; R
2600A系列在硬體和軟體上都有了改善,不僅支援桌上型的單通道測試;也支援多通道的測試系統:
4 m* g+ v E* d/ K: T& ~
.領先業界的最快測試速度以及採樣速率
, A# P" s* S. ~ \# b
.幾乎無上限的通道擴充能力
( J; v; i0 W. F, }' X; Q
.先進的平行測試能力
! F' |# s( S6 W# p# r
.獨特的A/D 轉換技術,提供快速而精確的量測;系統處理不同作業時不需輪流使用同一個A/D轉換器,大大提升量測效率。
" Q, [9 W* ]$ w8 b
.簡便的操作方式─使用者透過內建的免費TSP® Express軟體,能夠快速且輕易地執行一般I-V測試,而不需事先撰寫程式或安裝軟體。
8 h1 [; R% Y, G, `.符合LXI Class C標準,能夠快速且具成本效益地連結網路與儀器本身。
$ l% w# I4 ^: A4 c. Q g3 B
4 c7 ]$ Q, Y- ?* s; E4 i. NKeithley提供的解決方案涵蓋各種可能需求:從桌上型的I-V測試/特性分析系統、快速生產環境中的I-V測試系統、一直到多通道半導體特性分析系統。
0 H4 i9 r+ p( N' i! k+ s- a
n9 u! B( t2 E5 \/ e' T" o' sKeithley 2600A系列產品具備測試腳本處理器(TSP®)以及TSP-Link® 技術。藉由測試腳本處理器,儀器本身將能包辦完整的測試程序,包括複雜的決策制定,不須把數據傳回PC。因此,能消除因GPIB傳輸壅塞所產生的延遲,整體測試時間也大幅縮短,為使用者帶來真正「智慧型儀器」的優勢。
# B* V3 F" m* e
3 [+ p* z' E4 A! aTSP-Link是Keithley的擴充匯流排,讓使用者藉著連結多部SourceMeter儀器,為測試系統擴增通道,並緊密整合為一多通道系統。由此可見,使用者具備足夠的彈性擴充系統,即能降低測試成本、同時滿足通道數量的需求。
4 D6 m# l: B; G2 H
2 ?9 \! Q6 i! |4 D
超快的測試速度及測試彈性
, @+ u! s ~/ H雙通道2600A系列提供極精巧的半機架2U尺寸規格。為支援各種自動化測試應用,更提供業界最高的SMU機架密度。其動力來源是一個新型數位量測引擎,協助大幅提升量測效能:
: T, {0 x K2 l- ]$ \, @. A
.每秒讀取速度高達20,000讀值,能測出許多速度較慢儀器無法測得的元件效能參數。
8 a' J' c7 R+ p
.電子隔離通道(Electrically isolated channel),協助使用者結合多個通道以擴充I-V範圍,進而超越單通道儀器提供測試的範圍。
/ R3 I" e9 Q* }+ w
.較先前推出的SourceMeter儀器,時間精確性提高400倍, 0.5微秒μs內即可完成通道間同步化,同時更緊密掌握測試條件。
, ^4 d R" K% e7 t$ X! s9 S& B5 c
.支援高達50微法拉μF的電容的元件測試。
8 n, Z, U9 a) u# R- d" d3 M: V( I+ G.提供平行測試功能,能同時執行32項測試(最高達64通道);所有SMU通道都能同步,或非同步地在系統中對任何通道數量,執行相同或不同的測試。
! S( a: W7 s2 Q. 改良後的雜訊輸出性能,避免敏感元件受損
0 K; ]( z) r& X1 _ ^/ z9 ~/ b$ U2600系列SourceMeter的使用者將對新型產品的測試速度和儀器能力刮目相看。在不必變更程式的前提下,一個典型的BJT測試項目,搭配新型2600A系列將能提高測試速度約24%。
/ l w/ ^) n( D( q3 @* U0 W& ^6 t7 I0 p8 `
簡化桌上型應用的操作程序: g2 }9 B' b Y$ v6 K4 f3 Z
從各種角度評估,2600A系列皆能稱職地扮演測試工程師的「個人參數測試器(personal parametric tester)」。除了2600A系列成功改良的硬體效能外,Keithley在軟體工具方面也有類似的提升,使其同樣能在實驗室裡,單獨拿來進行各種桌上型測試應用。
- M+ m+ u+ T8 x% _; r8 p搭配2600A系列的新款TSP Express軟體,Keithley為其強大的測試腳本處理技術增值─TSP Express嵌入式軟體加快使用者從開始量測到獲得實際數據的過程。就執行一般I-V測試而言,使用者僅須透過一系列的下拉式選單設定各項測試參數,TSP Express 就會立即產生數十或數百個程式碼以執行測試。結合速度及簡易使用的雙重優勢,協助工程師更輕易的進行測試工作。
* S( C* y- U0 u9 t' `8 V2600A系列甚至配備一個USB介面,協助使用者更輕易地在不同儀器與PC間分享測試腳本與數據資料。
. u) _5 O# P9 u% ^# u' D6 Z詳細資訊
+ d$ A. ]4 Q/ E( F7 T+ @ 有關Keithley各款射頻測試產品的資訊,請瀏覽:
http://www.keithley.com/rf