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layout中該注意的事情

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1#
發表於 2008-2-13 12:20:04 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
想請問一下 有關 power,LDO...類比方面的各 block 中0 J, v+ u; S; d5 J9 @2 N5 B# B$ U" ]
. E/ Z9 b6 n' z% i
畫這些線路時你們都注意哪些方面的問題
- b( f6 J$ X+ Q; @( G# W6 e1 }4 C) F' p4 U
可以互相討論一下嗎) H/ ~3 s% ]: H. q5 {" ~4 D
6 V- H; [, R/ S! [
回答時也請說明哪種 block6 U9 S; z& i2 _0 R# [

: c: w& D% |' r" L5 J[ 本帖最後由 cindyc 於 2008-2-13 12:21 PM 編輯 ]
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2#
發表於 2008-2-14 21:53:42 | 只看該作者
布局前的准备:* o' O# t* V  H' Q+ V) I' q$ [; {
1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.1 I1 o2 q' L3 B6 P& h4 [
2 Cell名称不能以数字开头.否则无法做DRACULA检查.
) K6 p% x2 A5 q; E8 O3 布局前考虑好出PIN的方向和位置
$ ~( `1 z2 H+ G4 V! j4 布局前分析电路,完成同一功能的MOS管画在一起
$ ?$ n0 F) L% O! v4 Q+ \5 对两层金属走向预先订好。一个图中栅的走向尽量一致,不要有横有竖。
! l2 z* e, J: W& S6 对pin分类,vdd,vddx注意不要混淆,不同电位(衬底接不同电压)的n井分开.混合信号的电路尤其注意这点.7 z$ @( y0 Z4 \. H9 {/ f
7 在正确的路径下(一般是进到~/opus)打开icfb.9 d$ s! j% V* a; K
8 更改cell时查看路径,一定要在正确的library下更改,以防copy过来的cell是在其他的library下,被改错.
8 b' J% v3 J  v# H9 将不同电位的N井找出来.0 G5 j$ R( y8 Y# Q6 R
布局时注意:) q3 T9 o0 S) Z5 u2 D3 W9 j9 I1 G
10 更改原理图后一定记得check and save- n7 E# y' Q8 X" D$ K. i5 B
11 完成每个cell后要归原点( D+ P5 K" R2 w6 D+ f# M
12 DEVICE的 个数 是否和原理图一至(有并联的管子时注意);各DEVICE的尺寸是否和原理图一至。一般在拿到原理图之后,会对布局有大概的规划,先画DEVICE,(DIVECE之间不必用最小间距,根据经验考虑连线空间留出空隙)再连线。画DEVICE后从EXTRACTED中看参数检验对错。对每个device器件的各端从什么方向,什么位置与其他物体连线 必须 先有考虑(与经验及floorplan的水平有关).7 ^9 U3 j8 K* A% Q& S
13 如果一个cell调用其它cell,被调用的cell的vssx,vddx,vssb,vddb如果没有和外层cell连起来,要打上PIN,否则通不过diva检查.尽量在布局低层cell时就连起来' \3 Q: B, o* C; m9 N" ~
14 尽量用最上层金属接出PIN。
# c6 q6 [' ?7 l0 J1 `: L15 接出去的线拉到cell边缘,布局时记得留出走线空间.
' h4 h2 x* u0 |, C( o( ^. R16 金属连线不宜过长;$ H( W) S; f( }9 H/ R) S1 O/ b* _
17 电容一般最后画,在空档处拼凑。+ |' k! h% n, K# j
18 小尺寸的mos管孔可以少打一点.
; M- x+ @4 A: c/ U0 x9 F3 U19 LABEL标识元件时不要用y0层,mapfile不认。: V1 f4 w3 F! `( }- g$ j5 f
20 管子的沟道上尽量不要走线;M2的影响比M1小.% i- B* |1 o1 z
21 电容上下级板的电压注意要均匀分布;电容的长宽不宜相差过大。可以多个电阻并联./ `  q8 |+ X/ t
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。# V, p: \5 H2 |4 ], q
23 栅上的孔最好打在栅的中间位置.
) F, S  _, T  ]( a! j2 M* v/ S24 U形的mos管用整片方形的栅覆盖diff层,不要用layer generation的方法生成U形栅.- ~4 O% v1 l$ [/ n, L
25 一般打孔最少打两个6 N1 _# _& r4 y# j" |! w5 y
26 Contact面积允许的情况下,能打越多越好,尤其是input/output部分,因为电流较大.但如果contact阻值远大于diffusion则不适用.传导线越宽越好,因为可以减少电阻值,但也增加了电容值.' N& O; I. w- B) d0 Z
27 薄氧化层是否有对应的植入层
, \& k" A6 u6 K& A28 金属连接孔可以嵌在diffusion的孔中间.2 Z! }; V4 Q7 M4 f& f
29 两段金属连接处重叠的地方注意金属线最小宽度
8 H8 m! K4 {' C. }: v& d  d1 ]% [9 I30 连线接头处一定要重叠,画的时候将该区域放大可避免此错误。& W, _: h! D6 [# }, C0 E* v( h! _& d
31 摆放各个小CELL时注意不要挤得太近,没有留出走线空间。最后线只能从DEVICE上跨过去。
% ?2 Q( e3 ^9 u% O32 Text2,y0层只是用来做检查或标志用,不用于光刻制造.% b) ?7 g* l! t2 @( Y+ \' P' S
33 芯片内部的电源线/地线和ESD上的电源线/地线分开接;数模信号的电源线/地线分开。4 W! d+ u  i6 g- j# f
34 Pad的pass窗口的尺寸画成整数90um., v. d5 H. Y7 J; G* s
35 连接Esd电路的线不能断,如果改变走向不要换金属层
* n: e" z$ C% v7 \4 G# g; s36 Esd电路中无VDDX,VSSX,是VDDB,VSSB.
4 P. H  Q0 P6 c5 w9 l3 d  n: t37 PAD和ESD最好使用M1连接,宽度不小于20um;使用M2连接时,pad上不用打VIA孔,在ESD电路上打。1 G2 |: l  n2 J
38 PAD与芯片内部cell的连线要从ESD电路上接过去。
0 {1 |1 P- I! `6 V39 Esd电路的SOURCE放两边,DRAIN放中间。  E) ~$ F7 `; Q& i, J$ q8 D
40 ESD的D端的孔到poly的间距为4,S端到poly的间距为^+0.2.防止大电流从D端进来时影响poly.
7 ^. P, l+ ?- ~% W& r0 O* I41 ESD的pmos管与其他ESD或POWER的nmos管至少相距70um以上。# d8 A0 o2 x# w/ v2 u4 P
42 大尺寸的pmos/nmos与其他nmos/pmos(非powermos和ESD)的间距不够70um时,但最好不要小于50um,中间加NWELL,打上NTAP.  i: `2 O# m! Y9 X5 b
43 NWELL和PTAP的隔离效果有什么不同?NWELL较深,效果较好.
. a3 m1 P. e; b2 }1 R( J" j! u- L44 只有esd电路中的管子才可以用2*2um的孔.怎么判断ESD电路?上拉P管的D/G均接VDD,S接PAD;下拉N管的G/S接VSS,D接PAD.P/N管起二极管的作用.$ C* I6 a; i/ f8 k$ C) m
45 摆放ESD时nmos摆在最外缘,pmos在内.6 s7 I* b; f* u& O$ ]
46 关于匹配电路,放大电路不需要和下面的电流源匹配。什么是匹配?使需要匹配的管子所处的光刻环境一样。 匹配分为横向,纵向,和中心匹配。1221为纵向匹配,12为中心匹配(把上方1转到下方1时,上方2也达到下方2位置)21中心匹配最佳。' z7 s$ p" Z) g# ]
47 尺寸非常小的匹配管子对匹配画法要求不严格.4个以上的匹配管子,局部和整体都匹配的匹配方式最佳.7 @- j1 g6 R0 O+ c. ?% J
48 在匹配电路的mos管左右画上dummy,用poly,poly的尺寸与管子尺寸一样,dummy与相邻的第一个poly gate的间距等于poly gate之间的间距.7 M% g- K; k% \. y
49 电阻的匹配,例如1,2两电阻需要匹配,仍是1221等方法。电阻dummy两头接地vssx。0 G6 s) Z$ b6 G; r; z6 G
50 Via不要打在电阻体,电容(poly)边缘上面.
/ p7 `, j: a9 Y8 b% ?51 05工艺中resistor层只是做检查用
& [! L" c4 p6 k& K& {6 `52 电阻连线处孔越多,各个VIA孔的电阻是并联关系,孔形成的电阻变小.
: ^" O+ D0 r; {53 电阻的dummy是保证处于边缘的电阻与其他电阻蚀刻环境一样.: G  v9 s$ ^4 ?2 A. O7 M
54 电容的匹配,值,接线,位置的匹配。" U# \) r1 f) l; H+ G  b1 m" E
55 电阻连接fuse的pad的连线要稍宽,因为通过的电流较大.fuse的容丝用最上层金属.: \, e: B. F( }( Z9 X
5 X6 G8 k2 X, N! A. s1 a
56 关于powermos# j; f" T0 h8 g9 O
① powermos一般接pin,要用足够宽的金属线接,0 e6 {5 q- ]8 ~& b1 R5 y) X( e
② 几种缩小面积的画法。
8 z7 T# [8 l* N+ \, H+ E③ 栅的间距?无要求。栅的长度不能超过100um
5 a. t. D7 v1 Z57 Power mos要考虑瞬时大电流通过的情况,保证电流到达各处的路径的电阻相差不大.(适应所有存在大电流通过的情况).$ i9 a: P- @5 I1 m9 u; E
58 金属层dummy要和金属走向一致,即如果M2横走,M2的dummy也是横走向/ W4 k4 ~# [8 r8 _
59 低层cell的pin,label等要整齐,and不要删掉以备后用.
& J- h% n1 c3 ?6 o. [. F, M60 匹配电路的栅如果横走,之间连接用的金属线会是竖走,用金属一层,和规定的金属走向一致。
# ~3 u7 ]  F8 a4 I61 不同宽度金属连接的影响?整个layout面积较大时影响可忽略.$ O% H+ C2 o' m& y; ]' p4 Y+ U
62 输出端节电容要小.多个管子并联,有一端是输出时注意做到这点.
# [' Z$ y. j1 W5 j0 K1 O; h63 做DRACULA检查时,如果先运行drc,drc检查没有完毕时做了lvs检查,那么drc检查的每一步会比lvs检查的每一步快;反之,lvs会比drc快.( x3 J, t/ P. p
64 最终DRACULA通过之后在layout图中空隙处加上ptap,先用thin-oxid将空隙处填满,再打上孔,金属宽度不要超过10,即一行最多8个孔(06工艺)4 k9 b8 a7 n/ U0 b% V) h
65 为防止信号串扰,在两电路间加上PTAP,此PTAP单独连接VSS PAD.
8 j; g3 T  I/ c66 金属上走过的电压很大时,为避免尖角放电,拐角处用斜角,不能走90度度的直角.4 ]* u0 n1 }% F: F5 a, [
67 如果w=20,可画成两个w=10mos管并联& u& N  A! g( ^! y$ b9 x
68 并联的管子共用端为S端,或D端;串联的管子共用端为s/d端.' S! k) ?) Y$ i+ ^2 K/ i
出错检查:
, g0 Z8 h& R6 P& K6 i69 DEVICE的各端是否都有连线;连线是否正确;
' M7 c4 i3 E; v& v70 完成布局检查时要查看每个接线的地方是否都有连线,特别注意VSSX,VDDX0 F$ H5 k* m$ ]4 B( l
71 查线时用SHOTS将线高亮显示,便于找出可以合并或是缩短距离的金属线。0 p0 X" A- J$ Z' Y
72 多个电阻(大于两根)打上DUMMY。保证每根电阻在光刻时所处的环境一样,最外面的电阻的NPIM层要超出EPOLY2 0.55 um,即两根电阻间距的一半。1 R9 a; H' O$ h" F2 h% x; E" n
73 无关的MOS管的THIN要断开,不要连在一起
8 b9 `4 J0 g7 r, Q! K# F: P$ n3 P74 并联的管子注意漏源合并,不要连错线。一个管子的源端也是另一个管子的源端
' J7 z: D7 X/ u/ ?75 做DRAC检查时最上层的pin的名称用text2标识。Text2的名称要和该pin的名称一样.7 }3 z) d% e4 e' q
76 大CELL不要做DIVA检查,用DRACULE.
$ v" \( r$ j3 g) R/ j/ T$ ^77 Text2层要打在最顶层cell里.如果打在pad上,于最顶层调用此PAD,Dracula无法认出此pin.
6 O! m& d, Z$ u1 q8 |: k7 }  P78 消除电阻dummy的lvs报错,把nimp和RPdummy层移出最边缘的电阻,不要覆盖dummy/ V& F* I( ]. T5 i8 l- r) j7 m! A
79 06工艺中M1最小宽度0.8,如果用0.8的M1拐线,虽然diva的drc不报错,但DRACULE的drc会在拐角处报错.要在拐角处加宽金属线.
1 `' U: _# m9 I" `3 |" j6 g& D& {80 最后DRACULA的lvs通过,但是drc没有过,每次改正drc错误前可把layout图存成layout1,再改正.以免改错影响lvs不通过,旧版图也被保存下来了.
( G2 [0 u3 c7 n: ^! R, K1 |81 Cell中间的连线尽量在低层cell中连完,不要放在高层cell中连,特别不要在最高层cell中连,因为最高层cell的布局经常会改动,走线容易因为cell的移动变得混乱.
# n; j* i4 E0 U82 DRACULA的drc无法检查出pad必须满足pad到与pad无关的物体间距为10这一规则.
6 n4 V( D1 v+ F# k83 做DRACULA检查时开两个窗口,一个用于lvs,一个用于drc.可同时进行,节省时间.6 H0 |- @: O5 R1 j) J
容易犯的错误  Y+ s2 S, t/ N/ o9 x! q
84 电阻忘记加dummy* M7 `) C& E8 A0 y
85 使用NS功能后没有复原(选取AS),之后又进行整图移动操作,结果被NS的元件没有移动,图形被破坏.
1 I0 I" ~9 k& L3 `5 d86 使用strech功能时错选.每次操作时注意看图左下角提示., j9 S+ \  A; s! G
87 Op电路中输入放大端的管子的衬底不接vddb/vddx.' _' x* w0 E' G7 R) x! l
88 是否按下capslock键后没有还原就操作3 W' q. p, A5 }$ x- t- e8 I
节省面积的途径
) I0 N, j) ]% |" E6 P89 电源线下面可以画有器件.节省面积.# k& K( x& n3 h; P4 f
90 电阻上面可以走线,画电阻的区域可以充分利用。
! P' z" T+ C9 F; T5 n1 }3 h91 电阻的长度画越长越省面积。
9 z9 W4 W- q; N/ _92 走线时金属线宽走最小可以节省面积.并不需要走孔的宽度.9 a: e7 \3 D/ x( m: A
93 做新版本的layout图时,旧图保存,不要改动或删除。减小面积时如果低层CELL的线有与外层CELL相连,可以从更改连线入手,减小走线面积。
, b& K( C8 u6 P" p- Y8 Z2 G6 y8 L94 版图中面积被device,device的间隔和走线空间分割。减小面积一般从走线空间入手,更改FLOORPLAN
3#
發表於 2008-2-26 10:33:12 | 只看該作者
1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.2 _6 X# P* U2 u0 c' j5 c
请教二楼,是否一定要这样设置?倘若我按照规则上的最小尺寸来设置,可以吗?
4#
發表於 2008-2-26 11:43:43 | 只看該作者
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。
1 a+ j% ]+ t1 C6 ]3 s8 J做了会有什么影响?
5#
發表於 2008-10-23 16:20:50 | 只看該作者
"22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。" 不会吧,我就是这么做的???有问题吗
6#
發表於 2009-7-28 20:05:53 | 只看該作者
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属
% e& Z$ ^# j% H  D' [/ Q6 }# ^4 J同问!!! 不明白原因
7#
發表於 2009-8-9 22:00:16 | 只看該作者
剛好要瞭解這方面的資訊,正好做來參考...4 u* E# D: c/ r) r
( ?2 B, |1 h% z" D. ~9 ]
謝謝分享...
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