Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 3223|回復: 0
打印 上一主題 下一主題

[市場探討] 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2007-7-5 08:02:22 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工研院IEK-ITIS計畫董鍾明分析師$ E. \) C$ H7 Z( G$ g8 D
http://www.itri.org.tw/chi/components/jsp/showieknews.jsp?file=templatedata\services\ieknews\data\2007\2007052311040260EF6_utf8.dcr
7 K7 g7 T! S; p% Q1 @一、前五大封裝廠商排名
5 ]/ J* ?0 P( l' z2006年台灣IC測試廠商的排名維持與2005年的排名相同,前五大廠商合計產值仍佔整體產值之65%左右,其中以力成及南茂二家廠商的成長率最高。2006年力成仍是最積極擴產記憶體測試的廠商,特別著重在DDRII的產能擴充,2006年台灣新增的DDRII測試產能中,約有一半是由力成新購的機台所得。至於南茂2006年也有50%以上的高成長動力,主要在於南茂因應客戶在DDRIIFlash的產能需求,全年投入4.6億美元的資本支出因應,因此2006年營收也有相當不錯的表現。1 L' A) O: v: ~2 n- M8 ~0 C! O
表一 台灣前五大測試廠商
! C! W& m1 ~, e4 H8 i
2005排名

! u) n: ~, u9 q* {
2006排名

0 e' s; _) z* z- a( c$ }$ }( Z
公司名稱
3 |% }2 N- e) c( y0 d
2005營收
6 {/ F6 V3 {+ ^5 {# C, i
(億新台幣)
2 r- H& P& ?; S3 K. P( l* X
2006營收
0 ~: u2 h" P4 y4 G7 F8 s0 a. p
(億新台幣)
/ ~, s9 c" T2 P; P
成長率(%)

) }/ }  y& C" @2 h
1

% X: V8 r$ }* H' i: V
1
0 K* p: J. M- {/ I$ H
日月光集團*

  q1 T1 X) u) A) F; ^/ i: O% m2 {
172.0
  H: R1 V6 [' a6 K
214.3

3 {3 m0 \5 F$ I5 a
24.6
1 i4 v+ @' d' w) H6 ?
2
% J$ S0 S0 B+ V
2
/ m; T* u9 Y& z* D
京元電子

2 ?. C2 A& W/ V
99.5
+ B" R, S2 A& o1 p6 Z
129.0

' p. v$ T+ d; [
29.6

) |8 K5 a/ U5 ~0 j
3

/ n5 r- e3 o8 r4 a. i) Z, D
3

% G( t0 M% I9 A) Z& b# o
力成科技
9 Q' n# x: @5 K& L- i
77.7

2 G$ r. _. }$ D8 r! K- I' h! W
110.3

: A7 U) F( O" h6 i2 t6 e* y
42.0

% \8 M/ O$ L" A7 F  D# d
4
" B" Z% a& g6 Z3 Z  p, k
4

. e$ S5 i/ B; @  q6 N4 W
南茂科技

% }8 N: M+ A$ Q5 ]4 ~
58.8

, z- d! g3 D( c3 x; W7 `
92.5
% I$ {, F2 R. c" m
57.3
' b! O# E7 d7 Y8 G
5

. z0 {# `' Z2 S  S
5
. m$ _' _' T9 {. {. Y, v3 x
矽品精密
! F4 s3 H  K) K+ P$ x: |& j; s
43.0
6 w. v" f# q8 ]& `- R
56.4

' s/ M3 q( i# ^4 K. S% M
31.1
, }  I9 F, @5 s+ w0 i, x& Q
資料來源:工研院IEK(2007/03)
7 z" f. i% S1 z1 q7 |* F, g% |1 Z7 J5 {/ ]* w
二、重要趨勢
5 x  ]) ^3 {, a8 F9 j7 M0 |由於SiP日漸受到重視,而發展SiP的一個重要因素為良好裸晶(Know Good DieKGD)取得不易。良裸晶指晶圓(Wafer)製作完成後,未經封裝即進行全功能測試(Full Functional Testing)或甚至進行晶圓等級預燒測試(Wafer Level Burn-in TestingWLBI))者。
( ]7 N3 P" ]0 j為何SiP需要使用良裸晶(KGD)呢?這是因為將多顆IC封成一顆封裝體時,其中若有一顆IC有瑕疵,就將導致整顆封裝體內的全部IC都將因此無法運作。假定基板係經測試且封裝技術亦無問題,其良率為100%,若單一顆IC的良率為90%,利用此相同良率的5IC製成SiP時,則此SiP的良率將只有59%,在這樣的良率下將無法進行商業量產。為了降低SiP測試成本與提高SiP的良率,良裸晶的篩選就成了SiP生產製造過程中最重要的一環。- R% `% `8 T5 O& S' u, A
$ Y1 x- m( m7 D( t2 ?* `$ U$ D  o) `
三、未來展望5 n6 ~7 t/ n) A+ Z, B1 F8 b
記憶體測試約佔台灣整體測試產值之六成,換言之,記憶體產業之循環對台灣測試產業之影響相當大。以2007年而言,預料Vistia作業系統將開始慢慢普及,PC使用者對於換機或昇級的需求將會大增,直接衝擊的就是記憶體的需求引爆。除此之外,各式手持式電子商品的普及,以及具備各種需要儲存功能之產品問世,個人隨身儲存需求容量愈來愈高,2007Flash的測試需求將有增無減。
( s' z/ |4 x9 V: Z- u2007年台灣測試廠商擴產規模及速度,將會是影響台灣測試產業相當重要的一環。由於2005起,記憶體測試產能即呈供不應求之現象,因此,除了原有記憶體測試廠商持續擴充產能之外,包括原本不涉足記憶體測試領域的廠商,也都相繼投入記憶體的測試。2007年各家仍競相擴產的結果,雖不至於出現測試產能供過於求的現象,但價格破壞的競爭策略則難保不會出現。
$ P' `: p$ ]& n/ V4 s總而言之,2007年台灣測試產業仍可維持二位數字之成長表現,但相較於2006年近四成之成長,2007年成長將會稍為回緩,工研院IEK預估,2007年台灣測試業的營收將達1,029億新台幣,成長率為11.4%
" [0 l2 B; O' n( a, _5 p3 l# e
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-11-1 01:40 PM , Processed in 0.149008 second(s), 17 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表