KEITHLEY最新SOURCEMETER®儀器平台 * n1 E' F+ R. F9 V1 F/ a
提供業界最快最簡易的I-V特性分析5 Z& O0 Y! D. G* E q& ^
" {; I, B! \) K# a台北訊 – 2008年10月6日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments; NYSE:KEI)發表2600A System SourceMeter® 系列產品。新產品操作簡單,且具備卓越的量測效能及彈性,能協助使用者加快上市時程、減低測試成本、並簡化高品質量測的作業流程。欲進一步了解2600A系列System SourceMeter的詳細資訊,請瀏覽:
https://admin.acrobat.com/_a16893448/p81871518/。
# ^( P; a3 ^& ?' c
e2 n) N* R9 e( V& o; Y5 d2600A系列是Keithley備受肯定SourceMeter平台的最新版本。這款經驗證的平台將精確電源供應器、純電流源、數位電表、任意波型產生器、具量測能力的電壓或電流脈衝產生器、電子負載、以及觸發控制─全部整合在單一儀器中。
2 A6 t1 c8 C8 u+ K6 n2 \( u2600A系列在硬體和軟體上都有了改善,不僅支援桌上型的單通道測試;也支援多通道的測試系統:
& n3 E+ c2 C" V# y2 E S- I L. t. d.領先業界的最快測試速度以及採樣速率
" J% R3 I# M$ ]% C5 f
.幾乎無上限的通道擴充能力
7 k F) N1 }9 R+ m.先進的平行測試能力
1 |9 R# \$ H1 D) j: h6 H O; F6 Y
.獨特的A/D 轉換技術,提供快速而精確的量測;系統處理不同作業時不需輪流使用同一個A/D轉換器,大大提升量測效率。
& u# s: U' R; W7 G.簡便的操作方式─使用者透過內建的免費TSP® Express軟體,能夠快速且輕易地執行一般I-V測試,而不需事先撰寫程式或安裝軟體。
4 W: F0 G3 @1 A& D: e% Z.符合LXI Class C標準,能夠快速且具成本效益地連結網路與儀器本身。
0 }1 t3 D# u& A% S+ w* Y2 L$ _4 E& R2 p4 e: P& c
Keithley提供的解決方案涵蓋各種可能需求:從桌上型的I-V測試/特性分析系統、快速生產環境中的I-V測試系統、一直到多通道半導體特性分析系統。
$ G& X! q' r* Q6 D
+ s& _/ C+ Y+ d; k: DKeithley 2600A系列產品具備測試腳本處理器(TSP®)以及TSP-Link® 技術。藉由測試腳本處理器,儀器本身將能包辦完整的測試程序,包括複雜的決策制定,不須把數據傳回PC。因此,能消除因GPIB傳輸壅塞所產生的延遲,整體測試時間也大幅縮短,為使用者帶來真正「智慧型儀器」的優勢。
/ u" N- J% R g9 j. \" d' E+ \$ E0 E y5 r, a
TSP-Link是Keithley的擴充匯流排,讓使用者藉著連結多部SourceMeter儀器,為測試系統擴增通道,並緊密整合為一多通道系統。由此可見,使用者具備足夠的彈性擴充系統,即能降低測試成本、同時滿足通道數量的需求。
1 Z' `5 G3 l# t/ I5 Q/ O
. \; ^& e+ o% b( O) t) {( g
超快的測試速度及測試彈性
. `. j; g; ]$ ~/ e+ _- ]/ E4 M; s- K雙通道2600A系列提供極精巧的半機架2U尺寸規格。為支援各種自動化測試應用,更提供業界最高的SMU機架密度。其動力來源是一個新型數位量測引擎,協助大幅提升量測效能:
! p& p4 k/ U1 b) S( N( F2 X.每秒讀取速度高達20,000讀值,能測出許多速度較慢儀器無法測得的元件效能參數。
9 D3 Y7 I& d8 E A+ b3 Y2 h) e- J.電子隔離通道(Electrically isolated channel),協助使用者結合多個通道以擴充I-V範圍,進而超越單通道儀器提供測試的範圍。
) _% ~2 X. {" A h4 N# \7 a9 Q
.較先前推出的SourceMeter儀器,時間精確性提高400倍, 0.5微秒μs內即可完成通道間同步化,同時更緊密掌握測試條件。
+ q, ^9 u, q+ c/ C
.支援高達50微法拉μF的電容的元件測試。
8 L& L/ o0 g% A
.提供平行測試功能,能同時執行32項測試(最高達64通道);所有SMU通道都能同步,或非同步地在系統中對任何通道數量,執行相同或不同的測試。
7 h8 s( V% ?1 W% F4 N. 改良後的雜訊輸出性能,避免敏感元件受損
& {& ?: m- ~6 j0 l
2600系列SourceMeter的使用者將對新型產品的測試速度和儀器能力刮目相看。在不必變更程式的前提下,一個典型的BJT測試項目,搭配新型2600A系列將能提高測試速度約24%。
3 i0 \" i+ l. b; e( ^ o8 T4 u! V+ e( v! O9 I0 ?8 G
簡化桌上型應用的操作程序" i, T4 [' N l$ e" E! l
從各種角度評估,2600A系列皆能稱職地扮演測試工程師的「個人參數測試器(personal parametric tester)」。除了2600A系列成功改良的硬體效能外,Keithley在軟體工具方面也有類似的提升,使其同樣能在實驗室裡,單獨拿來進行各種桌上型測試應用。
0 S e7 l2 V( ?; [) ^7 U2 i搭配2600A系列的新款TSP Express軟體,Keithley為其強大的測試腳本處理技術增值─TSP Express嵌入式軟體加快使用者從開始量測到獲得實際數據的過程。就執行一般I-V測試而言,使用者僅須透過一系列的下拉式選單設定各項測試參數,TSP Express 就會立即產生數十或數百個程式碼以執行測試。結合速度及簡易使用的雙重優勢,協助工程師更輕易的進行測試工作。
- Y4 |% Z9 S) V" A8 I! C8 J2600A系列甚至配備一個USB介面,協助使用者更輕易地在不同儀器與PC間分享測試腳本與數據資料。
+ p B- H4 x7 c( A詳細資訊
/ T/ R O: Z5 X7 Z( w; ~$ ~- l) ] 有關Keithley各款射頻測試產品的資訊,請瀏覽:
http://www.keithley.com/rf