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不同於傳統 ATE 的封閉式架構,STS 具有開放式的模組化架構,可協助工程師運用先進的 PXI 儀器。這對 RF 和混合式訊號測試而言尤其重要,因為傳統 ATE 的測試範圍通常無法滿足最新半導體技術的需求。STS 搭載 TestStand 測試管理軟體和 LabVIEW 系統設計軟體,針對半導體生產環境提供了豐富的功能組合,包含可客制化的操作介面、分類機/針測機整合、裝置為主的程式設計和針腳-通道配置、標準測試資料格式報表製作、整合式多地點支援等等。有了這些功能,工程師即可迅速開發測試程式、加以除錯並完成佈署,縮短整體的上市時間。此外 STS 還配備了全封閉式的「零佔用空間」測試頭、標準銜接與連結機構,可立即整合至半導體生產測試單元。
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) v% z: I4 R! z/ v「由於測試系統不停汰換,或者無法滿足新的測試需求,因此傳統的 ATE 系統往往伴隨著高額的測試工具替換成本,不過 STS 的開放式 PXI 架構卻可以讓我們保有原本的投資,並且以此為基礎持續擴充,不必淘汰任何設備」,Integrated Device Technology (IDT) 測試總監 Glen Peer 指出:「此外還有出色的彈性,有助於重新設定測試平台並加以擴充,以便因應不斷成長的效能需求。」 , S, p" T0 b8 m7 ^( Y! X4 C/ E: r
k2 H5 [6 q2 h; [- oSTS 系列提供三種不同的機型:T1、T2、T4,分別容納了 1、2、4 個 PXI 機箱。這些尺寸選項,再加上所有 STS 機型通用的軟體、儀控和互連機構,可協助工程師充分滿足不同的針腳和地點數量需求。此外,便於擴充的 STS 還可以佈署至特性測試甚至是生產環境,藉此優化成本效益、大幅簡化建立資料關聯的程序,進而縮短上市時間。 8 r) Z G3 B/ E @% H
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為了協助客戶順利達成目標,NI 提供豐富的教育訓練、產品與服務,同時還有全球 NI 工程專家和 NI 聯盟夥伴的強力支援。 |
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