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根據經濟部統計,2011年半導體產值已超過 1.5 兆台幣,加上新製程及 IC 技術不斷推進,半導體廠商每年需投入高達10% 的總體營收在設備上,伴隨著 2012 年近期景氣愈趨明朗,產線滿載的情形下,「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求,這些無疑都是即將要面臨的挑戰。8 a0 H( S- M! l: O D( h( U5 j
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若將產品的測試流程放大來看, R&D進行 EVT、DVT,進而再交由產線進行PVT,若 R&D 和產線使用的測試設備不同,除了增加實質的測試成本,也增加了雙方溝通的時間成本;一般統計若 R&D 與測試端採用相同的測試設備,將可縮減一半的資金成本,且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。
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- N' i4 \- o- w) x. h為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間,美商國家儀器 (National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統,讓 R&D 端與產線端可以使用相同的測試系統,以大幅減少測試成本,並藉由PXI平台同步測試的優勢來提昇測試速度,同時分享如何用 PXI 平台進行多種無線通訊協定的混合測試。2 \ ]' }4 k( P4 v- `6 |
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此次研討會,將於2012年4月10日於新竹科技生活館舉辦,歡迎各界相關專業人士一同與會,和NI一起體驗 PXI 所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。0 Q8 j" B7 p, ?- Y+ s6 x2 V8 r9 f
! K, b6 W" |' f7 ?' X活動相關報名方法如下,歡迎大家踴躍報名!
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3 ?1 h. Y! D. i, y6 s【活動報名方法】
* }) `- `6 S2 u) B! e4 l活動地點:新竹科技生活館2F愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路 1號)3 b$ v' r3 a) g4 q: W
活動日期:2012.4.10 (二) 09:00 ~ 16:50* l S5 b9 ]* R8 Z( c8 l! f- O
電話報名 : 02-2377- 2222 # 55553 ]; m9 M# g1 b2 v1 |
網路報名:http://ni.ehosting.com.tw/events ... digitimes/edm02.asp |
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