提升嵌入式產品競爭力 III-NCTU EBL揭開序幕

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資策會交大嵌入式測試中心5月19日於新竹市舉行成立大會
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  k( S6 Q" I6 ^0 p1 V, n' J圖說：資策會與交通大學合作今(19)日舉行「資策會交大嵌入式測試中心」成立大會之揭幕儀式；與會貴賓由左至右為：晶心科技 林志明總經埋、正崴科技劉明德經理、資策會何寶中副執行長、經濟部工業局呂正華組長、交通大學林一平副校長、交通大學電資中心林寶樹主任以及佳世達科技蘇淑津協理。

(20110519 18:03:25)資訊工業策進會(資策會)與國立交通大學聯手合作，今(19)日於新竹市交大浩然圖書館B1國際會議廳A廳，舉行「資策會交大嵌入式測試中心」（III-NCTU EBL）成立大會暨嵌入式測試技術研討會。該組織的成立目的，期許自身能成為公正第三方專業客觀的測試評比中心，並協助國內嵌入式業者，開發出更具國際競爭力的產品。
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資策會表示，近年來開放式作業系統平台被大量的應用在各種不同的產品上；以Android系統為例，依資策會產業情報研究所(MIC)預估，Android整體產品至2013年，將達到1.26億萬台的規模；其中包括智慧型手機、PC-like、可攜式裝置與家用電子裝置等產品。

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市場專家指出，國內截至目前為止，並無一個公正客觀的第三方測試評比單位，可以針對各項嵌入式裝置及元件與系統效能進行效能評比。因此，如何挑選適當的元件並幫助產品開發者，測試該裝置的穩定度及效能，將成為未來開發嵌入式裝置的重要議題。
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  y4 T: u  J. k( `有鑑於此，資策會與交通大學合作成立的第三方嵌入式系統測試評比單位 ──「資策會交大嵌入式測試中心」（III-NCTU EBL），除了將協助嵌入式業者進行嵌入式系統效能評比之外，並希望同時進行嵌入式系統各種黑箱 (Black-Box)、灰箱 (Gray-Box)及白箱 (White-Box)測試方法設計及工具研發。
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- d3 X; X1 t& O: u: c資策會表示，透過黑箱測試的方法，可以幫助消費者或開發商，依據效能來選擇適合的產品或元件；而灰箱及白箱測試，可以幫助廠商找出問題的跡象，以開放式作業系統平台作為研究基礎，設計各種核心評比的方法及技術。

資策會指出，此嵌入式測試中心EBL(Embedded Benchmarking Lab)未來的運作方向，除了設計各種核心評比的方法及技術，供系統開發商進行測試，也將朝向turn-key solutions、IC設計公司及硬體IP模組業者等中、上游廠商的測試需求，進行學術研究；期望透過效能評比、瓶頸剖析及系統最佳化一系列測試改善流程，將成果提供國內嵌入式業者，作為產品設計的參考，加強軟體及硬體開發上的產品競爭力。
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訊息來源：財團法人資訊工業策進會