7/22 嵌入式網路通訊裝置評比技術與工具開發研討座談會

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活動地點： 國立交通大學(新竹市大學路1001號) 電子資訊研究大樓 1F 第二會議室
指導單位： 經濟部工業局、工業技術研究院
7 L$ C: `9 i6 g: c4 M5 P! W5 R主辦單位： 工研院交大網路測試中心 (NBL)

& g& G% Q& W  A7 Y( T交大網路測試中心(Network Benchmarking Lab, www.nbl.org.tw)成立8年來，已服務近100家廠商，測試超過500個產品，基於這樣的基礎與經驗，我們希望能夠往上游推進，從黑箱(black-box)測試進到灰箱(gray-box)測試與白箱(white-box)測試，協助系統廠之外，也協助IC設計公司，測試turn-key solutions及硬體IP模組，從NBL衍生出EBL(Embedded Benchmarking Lab)或ESBL(Embedded & SoC Benchmarking Lab)。

/ c  ^0 f: W. L* E& z' U此次研討會是EBL努力的第一步成果呈現，我們將現有嵌入式系統在時間、耗電與儲存(time, power, storage)測試(testing)與量測(profiling)的現有工具(off-the-shelf tools)，加入我們自己加值或開發的工具與方法(EBL Solutions)，整合成EBL1.0 Test Suite，用來測試評比Netbooks, Android handhelds及SSD各4個產品(共12個產品)。除了公開評比結果，我們將報告5項EBL Solutions，並有一場EBL/ESBL展望的產學座談會。

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時間	講題	主講人
12:30-13:15	報到 & 自助式午餐
13:15-13:30	來賓致詞	引言人：交通大學	吳重雨 校長
		交通大學電資中心	林寶樹 主任
		交大網路測試中心	林盈達 主任
13:30-14:20	嵌入式產品公開測試評比 (50mins)Profiling Time, Power, and Storage on Netbooks, Android Handhelds, and SSD評比產品:1. Netbook – Acer Aspire One D150 / Asus EeePC 1000 / BenQ JoyBook Lite U101 / Dell Inspiron 9102. Android Handheld - Acer Liquid / HTC Hero / Motorola Milestone / Samsung i75003. SSD – Intel X25-M SATA2 / Mtron SSD 7500 / OCZ Vertex SATA2 / Transcend TS16GSSD25S-S	交大網路測試中心	甘東杰
14:20-14:30	中場休息 (Tea & Coffee)
14:30-15:40	嵌入式產品測試技術之應用 (70mins)
	1. $ b! x. a8 a; ~0 i1 }5 JSolid-State Disks Benchmark: Workload-Oriented Benchmark for Solid-State Disks	交通大學 資工系	張立平 教授
	2. System Stability testing tool for Android devices: Android Key Logger	交大網路測試中心	甘東杰
	3. Power Consumption:(a.) 3 \, m7 m. I6 g, RPowerMemo: Profiling software power consumption of mobile devices in a controlled wireless network		Ilter Suat、游政錕
	(b.) # O9 m' g* |1 Z8 Z6 ^3 @% VCalibrating Parameters and Formula for Process-level Energy Consumption Profiling		尤云千
	4. Time Profiling: Booting, browsing and streaming time profiling and bottleneck analysis on Android-Based systems		杜之雄
15:40-15:50	中場休息 (Tea & Coffee)
15:50-17:00	座談議題：從NBL到EBL/ESBL (70mins)1. 台灣資通之系統商與IC商是否需要有第三方測試機構來提升產品競爭力?2. 目前對嵌入式系統產品與IC產品在哪些項目較欠缺自動化測試，導致測試週期過長?3. % L3 S& q" A) ?6 Q6 g7 y對於現今嵌入式系統的耗電及耗時的測試工具是否足夠? 還有哪些欠缺?4. ( o( e, Q2 d; o$ X% f( _, AQ&A (嵌入式系統與IC測試技術之經驗分享及建議)	主持人：交大網路測試中心	林盈達 主任
		座談人:
		工研院 * `% b/ a1 C4 p6 ]資通所	莊國煜 經理
		交通大學 資工系	陳添福 教授
		交通大學 資工系	張立平 教授
		華碩科技(ASUS)	沈長毅 經理
		正崴精密(Foxlink)	梁毅忠 副理

*交大網路測試中心保留更改議程及講師之權利，若有更改將不另行通知。