about DLCP(Drive-Level Capacitance Profiling) defect density 測試資訊

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KEITHLEY MODEL4200-SCS推出升級版

新增太陽能電池測試功能、擴充C-V量測頻率範圍並支援九插槽機架

台北訊 – 2009年4月13日 – 先進量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments, NYSE:KEI)日前對其獲獎無數的Model 4200-SCS半導體特性分析系統進行了全面的硬體、韌體和軟體升級，7.2版的Keithley Test Environment Interactive (KTEI)升級軟體包含了九種新的太陽能電池測試函式庫，針對系統電容-電壓(C-V)量測功能擴展的頻率範圍，支援吉時利最新的Model 4200-SCS九插槽機架。欲了解Model 4200-SCS免費升級方案的資訊，請瀏覽： http://www.keithley.com/events/proddemos/ktei

KTEI V7.2新增的太陽能電池測試函式庫擴充了Model 4200-SCS支援I-V、C-V和電阻測試應用的功能，在人們對替代能源的興趣大增以及政府大力支持的情況下，這些測試功能顯得越來越重要。該款軟體升級也支援最新的太陽能電池測試技術DLCP(Drive-Level Capacitance Profiling)，DLCP能夠提供薄膜太陽能電池上的缺陷密度(defect density)資訊，該測試技術若採用之前的測試方案是很難精確實現的。此外，Keithley在2007年11月份所推出的Model 4200-CVU(電容-電壓單元)測試卡可輕易經由修改來支援DLCP測試技術。

為支援DLCP測試，Model 4200-CVU的頻率範圍已經從10kHz – 10MHz向下擴展到1KHz – 10MHz。擴增後的頻率範圍也擴大了系統的應用領域，能夠支援平面LCD和有機半導體─如有機發光二極體(organic light-emitting diodes, OLED)的測試。

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隨著I-V、脈衝和C-V特性分析應用的不斷增長，需要更大測試彈性和更強測試功能的Model 4200-SCS使用者逐漸發現他們的主機有些不敷使用。為了解決這個問題，KTEI 7.2版支援九插槽機架。以前，Model 4200-SCS只有八個插槽，卻有越來越多電源量測單元(SMU)、脈衝產生器、示波器卡以及電容-電壓測量卡安裝的需求。現在的Model 4200-SCS系統經過升級可以支援九個插槽；所有新的主機都將提供九個插槽。

為了支持7.2版的升級，吉時利還推出了新款高性能三軸纜線套件(triaxial cable kit)，用於連接Model 4200-SCS和探針台，能夠大大簡化在直流I-V、C-V和脈衝測試之間轉換的過程。這款新的纜線套件無需使用者重新佈線，也能夠消除由於佈線誤差導致的測量誤差。新款的纜線套件有兩種版本現正供應中─一種適用於Cascade Microtech探針台；而另外一種適用於SUSS MicroTec探針台。

持續的系統升級確保產能不斷增長

Keithley的Model 4200-SCS取代各種電子測試工具，提供緊密整合的單一特性分析解決方案，適合各種應用─包括可靠度實驗室、材料與元件研究實驗室、產業聯盟等組織、以及任何桌上型DC或pulse儀器的實驗室，進行半導體技術開發、製程開發、以及材料研究。Keithley持續提升軟硬體的性能表現並改良系統，確保一條具成本效益的升級管道，讓使用者不必淘汰舊的參數分析儀。系統可以高成本效益的方式進行升級，配合產業持續演進的測試需求，因此，將關鍵的投資放在Model 4200-SCS所獲的的效益，將遠超過其他廠商的測試解決方案。

Keithley作為半導體元件特性分析和參數測試系統的領導廠商，為全球各地的使用者提供了電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和脈衝I-V測量與分析所需的各種解決方案。產品涵蓋了單一的桌上型儀器到成套系統；適用於材料分析、元件特性分析、晶圓級可靠度分析、製程監控等應用。Keithley通過其龐大的服務中心網路以及具有半導體專業知識的應用工程師，與全球的半導體客戶密切合作提供完整服務。

供貨時程
KTEI 7.2版已針對現有的Model 4200-SCS系列提供免費升級方案。但是，對經過升級的4210-CVU進行校準以及升級現有的4200-SCS系統支援九插槽結構則需另外收費。