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就以PLL的量測
0 a& J: q2 T- r9 w首先要說明一點的是: I/O PAD本身很難有高於150MHz的clock output(這點應該不適用於RF)
/ a# \; w1 O: u4 M9 H W正常情況若要量測PLL,大都是把PLL降頻到100MHz以下
4 E0 ~$ g) C* x如此一來I/O PAD才能夠正常地把clock waveform送出來
, l$ |' C% @; Z$ L這點是I/O PAD先天上的限制8 k9 f$ y8 H% P+ u
原因很多,諸如ESD protection的size所造成的寄生電容太大,導致無法工作在高頻等等......
3 y- e \5 u$ k6 G% V我沒作過RF,所以我不知道在RF情況下是否也是這種情況
, g, W. F1 M$ K5 M/ c, u9 l
6 Y. D: u1 B5 I要量測jitter當然是直接量最準確$ z( G: _( W: a+ T* s$ I# A
不過,就像我先前所說的I/O PAD先天上的限制,所以只能先把PLL降頻再送到I/O PAD量測9 L; A' x5 s' C; V, f% ?. ~. Z( l y3 X
雖然兩者的clock並不一樣,但因為源頭是從PLL所產生出來的2 u' m* w, I' I8 o0 T6 G; i
所以,理論上PLL的clock jitter也應該會等同於除頻後的cloc jitter
+ h/ r1 g' n0 h3 F當然,你也可以將chip不作封裝,然後直接用probe來量測,不過,要先畫有probe PAD才行,而且其儀器也要很高檔才行,只是,這個樣子作實在很麻煩
: R+ c+ U5 U2 v+ O$ c9 ^2 T% p4 x+ ^- Q
要量測jitter除了示波器
$ ^9 _, C4 ]* D6 j/ u5 k8 ^; D我還想不出有那種儀器可以輕易量測出jitte+ o; ], w/ {1 k }6 Y0 z$ H2 _9 n
而一般的示波器,好一點的都會有量測jitter的功能
- a( d1 h- E2 R' [+ t: q裡面的選項大概有rms jitter, peak-to-peak jitter, cycle-to-cycle jitter等等& i! j/ H3 w2 T; l+ D$ r
通常,我們只看rms jitter,其餘的並不會特別去看,除非是作high speed link,或者特別要求 |
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