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[市場探討] 2006年台灣前五大測試廠商排名及趨勢展望

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發表於 2007-7-5 08:02:22 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
工研院IEK-ITIS計畫董鍾明分析師
9 g: e- H' o1 P: Yhttp://www.itri.org.tw/chi/components/jsp/showieknews.jsp?file=templatedata\services\ieknews\data\2007\2007052311040260EF6_utf8.dcr
7 x$ J$ g) Y) |一、前五大封裝廠商排名' Z* O4 h; R% u4 D& D1 N
2006年台灣IC測試廠商的排名維持與2005年的排名相同,前五大廠商合計產值仍佔整體產值之65%左右,其中以力成及南茂二家廠商的成長率最高。2006年力成仍是最積極擴產記憶體測試的廠商,特別著重在DDRII的產能擴充,2006年台灣新增的DDRII測試產能中,約有一半是由力成新購的機台所得。至於南茂2006年也有50%以上的高成長動力,主要在於南茂因應客戶在DDRIIFlash的產能需求,全年投入4.6億美元的資本支出因應,因此2006年營收也有相當不錯的表現。2 ?- b3 o' \" f, D
表一 台灣前五大測試廠商, Z- ]( o6 {! e8 [- o+ G
2005排名
% X4 l  ?& W! M! ?' \& m' N
2006排名

) ?# P0 T9 S/ r$ M9 N
公司名稱

( a* ^* h9 E- [; U% X
2005營收
) }( M4 }+ h# l" w: t
(億新台幣)

- I, c" Q! P/ H
2006營收

1 \. K9 k6 {' @+ G- l! v  k0 H
(億新台幣)
% {" j# W$ o9 \
成長率(%)

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1

1 H% H( O& |: u: e
1

2 d- S# I; _( ?0 z: i
日月光集團*

8 V0 q5 g- u& ?7 n' y7 O
172.0
1 @7 _$ ?2 d: |; ~8 V) w7 i5 D- ]% d
214.3
! G. \- {4 q+ g+ Y1 H
24.6
9 |. e# Z, _4 n- G% ]# ?
2
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2

  W* ^4 c4 C0 z  {2 `) k
京元電子

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99.5

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129.0

& z- `5 J$ D- x) a
29.6
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3
/ ~6 E0 Y+ B3 E; v1 o6 \; a3 w
3

% \/ @/ M, n1 J) G, }/ z0 k
力成科技
" ^, j. u% t4 t" r, p
77.7

) W7 ~; z6 h/ q; V8 J+ S( I
110.3
! Y2 T0 h# k+ g" K$ W/ \% d
42.0

) y0 j1 j6 J  S: k3 G8 t
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% v$ r, N9 B2 i$ P6 F( g# m  g+ q
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4 z0 k" a# A4 C0 [6 I5 z
南茂科技

% e1 R5 ~" i0 d+ n" K
58.8

- k0 q! ^6 b( i9 ?6 [5 X
92.5
% U5 M2 }: [! T- K2 Z- C) K/ h
57.3
$ Y6 N' J+ X9 ~+ K: W' a
5

8 m! D2 ~8 O3 Z: v0 ^' r
5

; \/ L, [  K: [* q+ Q0 U# o: T9 E
矽品精密

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43.0

. ]) F; f/ y" F4 t9 D& l
56.4

! a: X; n3 x' c, J! K1 w5 u
31.1

5 H" i5 Z* a  \8 R2 u/ ~9 N# ^2 P- o
資料來源:工研院IEK(2007/03)+ `7 l8 d! e" e- ^( A
* ^5 |3 y% P6 H2 k$ C  l
二、重要趨勢
$ u+ U- P4 T/ S! o6 @由於SiP日漸受到重視,而發展SiP的一個重要因素為良好裸晶(Know Good DieKGD)取得不易。良裸晶指晶圓(Wafer)製作完成後,未經封裝即進行全功能測試(Full Functional Testing)或甚至進行晶圓等級預燒測試(Wafer Level Burn-in TestingWLBI))者。
" S$ T( W, W5 J# @! ]+ a! [. g2 l為何SiP需要使用良裸晶(KGD)呢?這是因為將多顆IC封成一顆封裝體時,其中若有一顆IC有瑕疵,就將導致整顆封裝體內的全部IC都將因此無法運作。假定基板係經測試且封裝技術亦無問題,其良率為100%,若單一顆IC的良率為90%,利用此相同良率的5IC製成SiP時,則此SiP的良率將只有59%,在這樣的良率下將無法進行商業量產。為了降低SiP測試成本與提高SiP的良率,良裸晶的篩選就成了SiP生產製造過程中最重要的一環。3 @8 x3 f' Q% B; u/ W6 v, ?
+ {( E$ O  \$ s/ F1 K& K* f, R6 `% J
三、未來展望
0 x' e4 ]  u# H3 Q  N記憶體測試約佔台灣整體測試產值之六成,換言之,記憶體產業之循環對台灣測試產業之影響相當大。以2007年而言,預料Vistia作業系統將開始慢慢普及,PC使用者對於換機或昇級的需求將會大增,直接衝擊的就是記憶體的需求引爆。除此之外,各式手持式電子商品的普及,以及具備各種需要儲存功能之產品問世,個人隨身儲存需求容量愈來愈高,2007Flash的測試需求將有增無減。: {2 V2 G9 F" |( I  q3 I
2007年台灣測試廠商擴產規模及速度,將會是影響台灣測試產業相當重要的一環。由於2005起,記憶體測試產能即呈供不應求之現象,因此,除了原有記憶體測試廠商持續擴充產能之外,包括原本不涉足記憶體測試領域的廠商,也都相繼投入記憶體的測試。2007年各家仍競相擴產的結果,雖不至於出現測試產能供過於求的現象,但價格破壞的競爭策略則難保不會出現。" K) ?* z  J+ M) G+ V
總而言之,2007年台灣測試產業仍可維持二位數字之成長表現,但相較於2006年近四成之成長,2007年成長將會稍為回緩,工研院IEK預估,2007年台灣測試業的營收將達1,029億新台幣,成長率為11.4%3 v  O+ P, L& I  ]
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