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原來是Power FET呀
" ^0 e# H+ N% j. H' Q+ F- B一般來說,如果是一般的digital circuit或者analog circuit,在高溫下若是TSMC或者UMC之類的model,大概就還不會偏移太多
D- h x8 F. |3 {不過,若是Power FET之類的hspice model,需特別留意在高溫下的model曲線特性- ]! ?+ j) j! D$ K
因為Power MOSFET的size會用的特別大,故而也會流過很大的電流,而在此情況下metal 耐電流issue和current density的問題就會跑出來,再加上超大size的Power MOSFET的導通時間和面積,這些都會影響到performance8 [* ]: N) A% w
我之前也遇過類似的問題,在大電流下Power MOSFET上不去,在高溫下也是,但在Hspice model模擬卻沒有看到
2 i! ?# @. [7 ?( Y* r) y9 Z後來請製程廠提供WAT資料再用類似的條件模擬,發現到模擬和量測兩者的差異在某些情況下會差很大,後來也是請製程廠調整他們那邊的技術才得以解決 [$ a% @* M) ~+ Z5 M0 n
你這個問題可以向製程廠反應,他們應該會很有經驗 |
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