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[問題求助] ADC/DAC測試參數

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1#
發表於 2008-8-6 15:28:26 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
當我們在測ADC/DAC時總是有一些參數,例如INL,DNL,THD,SFDR....
$ r3 c' o6 H7 J2 X/ ?7 N/ d* |但是測試出來後總是要知道我們量測值的好壞,請問有沒有一些standard是在定義這些參數所要符合的規格標準來與我們測試結果做比較呢?
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4#
發表於 2008-9-25 11:01:06 | 只看該作者
可否請問ADC的DNL及INL簡單量測方式??
3#
發表於 2008-8-9 08:49:26 | 只看該作者
一般來說並沒有一定的標準規格來定出到底你所作出來的ADC/DAC有多好
/ I) d" z$ T4 @" w- M" ?. p絕大部份都是拿國外的datasheet來比說你所作出來的ADC/DAC能否達到類似的規格,如果差異太大,那就會受到別人的質問; J  \# p( C" l: v5 ^% M% a3 z
我們絕大部份都是拿analog device公司的datasheet作為參考
1 K1 Z. w& {. Q6 E/ Q2 B7 C0 N另外,ADC/DAC會因為bit數的不同,速度的不同而有不同的要求和規格
5 t9 E0 G3 t  D4 p, G所以,在不同的應用下,會有不同的標準要求
2#
發表於 2008-8-6 21:10:25 | 只看該作者
有啊!一般的INL/DNL 不能超过 1LSB,THD与SFDR 就与理论计算值比较,以检测你实际AD/DA的性能.
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