請教一下flash 測試的問題

ljh

各位先進:
      想請教一下flash測試的問題, 我的問題是在測flash時如果能把所有的control signals
. K+ n8 E1 x8 v8 M# j/ G& j1 h& I及DIN/DOUT全部打到PAD or PIN上, 那基本上是沒有問題的, 但如果想要設計成core limit的話
勢必一定要用mux out的方式, 這樣一來我的問題是各位先進有沒有經驗是如何做的呢?我目前的想法
是慢慢切,一次write某些bits,沒被mux到的就先fix在1 or 0, 分段去測, 不管是Write or Read
都是一樣.不知各位大大的想法是怎麼樣? 謝謝指教

DennyT

Address 及 DQ bus改成 DDR，多一根/clock，出pin就接近除2了。