Chip123 科技應用創新平台

標題: 3/8~[日本專家]Micro LED Display製程趨勢與光學檢測技術 [打印本頁]

作者: SophieWeng@G 時間: 2019-2-14 04:58 PM
標題: 3/8~[日本專家]Micro LED Display製程趨勢與光學檢測技術
Micro LED對於微米級缺陷的承受能力相當低，因為轉移和修復技術非常昂貴。為了減輕對成本和工廠產量的不利影響，Micro LED檢測要求要高得多。可能需要亞微米級別的靈敏度，以確保沒有缺陷漏網。與mini LED相比，檢測步驟也可能更多，以確保所有系統缺陷都被識別並根除。因此，晶圓經過其他技術步驟，例如光刻、蝕刻和清潔，這可能增加系統和隨機缺陷。諸如形成不良的發射區域、表面顆粒等缺陷對於LED效率都有直接影響，導致暗淡或失效畫素。需要捕獲這些缺陷並對其進行分類，以便通過相關性統計和缺陷源分析來確定它們與良率之間的相關性，並且降低它們的密度。

[議程安排]

時間	內容	主講人
09:40~10:00	報到
10:00~11:00	一、Micro LED顯示器產業現況與應用潛力 1.Micro LED市場趨勢與量產技術現況 2.未來Micro LED應用潛力與產業機會	晶元光電鄧處長
11:10~12:10	二、面對Micro LED製程所需的轉移與良率檢測技術分析 1.Micro LED轉移技術與定位技術現況 2.高良率化課題與檢技術分析	台北科技大學光電工程系陳教授12
12:10~13:10	午餐
13:10~14:40	三、針對Micro LED色度、均一性檢測的技術現況與動向 1.Micro LED的色域、色度可再現性範圍分析 2.針對Micro LED色度、均一度檢測的技術課題	TOPCON Technohouse光計測部營業事業群經理西川先生日語演說中文口譯
14:40~15:00	休息時間
15:00~16:30	3. 針對Micro LED的最新光學檢測方法 4.Micro LED的未來展望	TOPCON Technohouse光計測部營業事業群經理西川先生日語演說中文口譯

[報名資訊]

主辦單位：社團法人台灣電子設備協會
協辦單位：互光產業
上課地點：工業技術研究院產業學院台北學習中心4樓(台北市和平東路二段 106號)＊實際地點依上課通知為準
上課時間：2019/03/08(五)，09:30~16:30，共計5小時。
報名日期：2019/02/12~2019/03/07 截止
報名費用：原價：4,500元/人(費用請勿另扣除郵資及匯兌手續費)
課程優惠：
1 同公司2人以上同行享每人NT$3,500元
2.TEEIA會員享每人NT$3,000元。
3.2/28前報名且完成繳費者，享早鳥優惠價$3,800元。
※請於開課前完成繳費，課程現場繳費，恕不享以上優惠資格。※
聯絡人：鄭小姐 / 02-2729-3933#22 / anne@teeia.org.tw

歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)