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[好康相報] 4/12 新竹 NI 新興半導體測試技術研討會

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發表於 2012-3-20 17:45:17 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
根據經濟部統計,2011年半導體產值已超過 1.5 兆台幣,加上新製程及 IC 技術不斷推進,半導體廠商每年需投入高達10% 的總體營收在設備上,伴隨著 2012 年近期景氣愈趨明朗,產線滿載的情形下,「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求,這些無疑都是即將要面臨的挑戰。
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若將產品的測試流程放大來看, R&D進行 EVT、DVT,進而再交由產線進行PVT,若 R&D 和產線使用的測試設備不同,除了增加實質的測試成本,也增加了雙方溝通的時間成本;一般統計若 R&D 與測試端採用相同的測試設備,將可縮減一半的資金成本,且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。
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* G  t4 U; f5 R9 J( i& _9 O- x為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間,美商國家儀器 (National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統,讓 R&D 端與產線端可以使用相同的測試系統,以大幅減少測試成本,並藉由PXI平台同步測試的優勢來提昇測試速度,同時分享如何用 PXI 平台進行多種無線通訊協定的混合測試。- S6 `0 A$ A. w! ]) B' B) Y

% `; O2 D# I! t5 q8 L# M: h5 F, w3 [此次研討會,將於2012年4月10日於新竹科技生活館舉辦,歡迎各界相關專業人士一同與會,和NI一起體驗 PXI 所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。( F4 O& x  S" K# R2 _0 e& [
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活動相關報名方法如下,歡迎大家踴躍報名!9 t$ F% Z" x6 Z! ?8 P

! V' N% ~( ~8 I. A" v% n8 C6 N; J【活動報名方法】6 f" k* F9 t$ \
活動地點:新竹科技生活館2F愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路 1號)1 u7 O8 R) [3 N6 j
活動日期:2012.4.10 (二)  09:00 ~ 16:50# x% w5 d5 g; f; S' B; w" f  F& x
電話報名 : 02-2377- 2222 # 55553 A2 z% }# |7 M
網路報名:http://ni.ehosting.com.tw/events ... digitimes/edm02.asp
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