7/12, 14 LTE市場趨勢與測試應用研討會

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時間：新竹場次: 2011 年7月12日(週二)　台北場次: 2011 年7月14日(週四)
4 l" [+ |9 t2 I地點：新竹場次: 科技生活館 201會議室  台北場次: 集思台大會議中心 蘇格拉底廳
& V* [* ~) c0 V$ ]2 y7 ~6 D7 O主辦單位：安立知股份有限公司、台灣區電機電子工業同業公會
參加費用：免費
本研討會提供：精美課程講義、精緻餐點，會後將進行抽獎活動。

4 c9 H# C% t& }! h, @$ f7 }5 s! j簡介：
長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲，是最被看好的行動通訊系統，在3G與4G技術的世代交替之際，正是群雄競逐商機的最佳時機。
/ E8 {5 ?- R' V- K: NLTE量測設備領導品牌- 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求，在LTE FDD/TDD上皆推出從RF到Protocol最穩定的解決方案，而承襲MD8470A新品MD8475A訊令測試儀，將首次在台灣亮相；想知道LTE測試是可以多麼簡單容易上手嗎？安立知竭誠邀請您報名參加，每場次僅限120位貴賓，欲報從速！
% x6 f+ ^9 ?8 H; d  w報名方式：線上報名：http://tinyurl.com/4xy6kal

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時　間	主　題	講　師
13:10~13:20	報到 ! V9 S- _' v/ q	9 M& K3 L/ w* \" R3 w% Z4 ^5 e
13:20~13:30 / c# X& r. B0 y" @7 g	開場 - @& n1 Y, {2 _$ q: Z* y	) n2 A. ]3 [6 d0 d, ?* @+ D5 r2 `, A 6 y8 F- I% L+ j& B0 y8 @0 B
13:30~14:00	LTE Requirements for GCF and PTCRB , _4 Y4 e% H1 w, g台灣檢驗科技股份有限公司 . B' q+ @7 Z- G7 T, H$ Y+ Z& p( X電子通訊實驗室行動通訊部門經理 8 L; q2 F& Z3 _3 Z* }/ z2 m1 d郭金興 Ben Kuo
14:00~14:30	LTE FDD/TDD訊令測試解決方案 ; x7 x1 l4 r7 w1 ~9 w, v, {	台灣安立知 ) c. o; v, B. A6 I應用工程師 3 F/ _; r. z* Y5 w: T5 {! e7 l薛伊良 Petrushka Hsueh 3 a* `0 x$ b0 \2 C( G/ ?
14:30~15:00 " {1 u! T0 g& g( I	All in One 人性化的手機應用測試解決方案 $ ~' q6 _- \9 [" d6 e" P1 b
15:00~15:30	Coffee Break	' |9 }4 ?5 z/ B0 P9 _9 \
15:30~16:10 ( x: E- z  x7 D) t	LTE連網展示- MD8475A $ m8 y2 f8 s: P; c1 n, \  P" d! q	薛伊良 Petrushka Hsueh 7 t1 S/ C6 x5 D5 z7 I" t
16:10~16:40	LTE FDD/TDD射頻量測與自動化測試 3 }7 a6 _  N  j. x  p% g	台灣安立知 技術副理 7 W8 ^# o/ y# _  ?- q吳錫坤 Howard Wu
16:40~17:00 * w" u6 k7 ^0 |" s+ {0 T' L	LTE Calibration overview " P5 `3 g9 x1 u1 v	台灣安立知 軟體工程師 王孝群 Enzo Wang
17:00~ 8 M# S; B$ a  M7 [5 B" l+ D/ o	Q&A及抽獎活動	3 R2 f2 _) v" Q: ?1 [

*主辦單位保留活動議程更動權利，若有變更將另行通知。
5 h1 P, A2 h& _$ h6 G8 W1 C' x*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等，將以氣象局公告為基準，取消或延後本次研討會。