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時間 : 3 月 8 日
U+ z3 p* b" V6 M1 i5 _5 Y% d5 X2 q. l地點 : 臺北 - 維多麗亞酒店 3F 宴會廳C區
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這一次,Tektronix 與Ansys 的專家將攜手解決您在仿真以及測試上的所有問題!
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- B& b7 C8 C6 {- c. V如何在模擬測試中盡可能的接近真實的使用環境,是每個SI及R&D工程師所冀望的。測試設備及仿真軟體如何滿足使用者對於測試結果的需求及渴望,考驗著設備供應商所提供的解決方案之完整性。) m2 I Y- F+ L7 X# M
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我們邀請了各路高手進行演講與展示:
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/ y( z8 Z S x4 f" |! e: [+ RAnsys - 高速串行通道的仿真與驗證# Y! D% @' N2 n4 X7 h3 `6 e
在高速串列資料中熟悉如何進行仿真與驗證, 實現“設計 -> 仿真 -> 原型樣機測試 -> 再設計仿真”的完整閉環。 & H; O* O, J- {
Tektronix - 挑戰閉合的眼圖 - BERTScope在高速背板, 連接線之應用
$ m; e& X) b* N, G' } L" ]5 J) }在高速串列訊號通過如背板或連接線(lossy channel)後挑戰閉合的眼圖,利用手邊的儀器創造一個極佳的測試環境,為高速通道的設計者們提供完善的設計參考。
( r; k6 J3 g0 [' e& W. V整合SDLA與TDR以進行高速串列資料測試
' T3 }- M' K3 x# W) C- O! @) S, d如何整合SDLA與TDR以進行高速串列資料的測試,分享給您最新的第一手資訊,替測試與仿真的相互驗證帶來了極大的便利性。 ' s- v. q. X- W2 [( F
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