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VOICE 2011論壇半導體測試技術論文徵稿
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, _9 @7 g9 l; |1 @: \! ~, [【2010年9月30日,台北訊】– 由首屈一指半導體測試公司惠瑞捷(那斯達克代號:VRGY)所籌辦的使用者社群會議暨合作夥伴研討會 “2011年VOICE技術會議” ,已經展開國際論文徵稿活動。第五屆年度VOICE會議將在2011年4月19日- 21日於加州聖塔克魯斯市的沙米納德SPA度假村(Chaminade Resort & Spa)舉辦,此會議包含技術簡報、研討會和小組討論,其主題涵蓋範圍包括設備上的進展、測試技術和方法、工程效率和量產測試的高成本效益解決方案。 除此之外,還有供應商博覽會讓與會者可以瞭解惠瑞捷的最新產品和服務,及其來自世界各地的解決方案合作夥伴。
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惠瑞捷資深應用工程師暨會議指導委員會主席Rich Lathrop指出,「除了技術簡報之外,VOICE還提供合作論壇,以交換最新半導體測試技術的觀點並展示惠瑞捷V93000、V101及V6000平台的最佳操作方式。與會者有機會透過直接與測試設備研發專家的互動,搶先一窺SOC、Flash、DRAM和高速記憶體IC的最新高良率測試解決方案,以及全晶圓探針卡解決方案」。% _, w2 @% V& p
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這場為期三天的會議,提供廣泛的教育研討會,範圍不只包括產品導向教學、產品實作展示區,還能與來自整合元件製造商(IDM)、IC設計公司和封裝測試廠(OSAT)的同業和技術專家共同進行新興的元件技術、全球產業標準和未來測試需求的深入探討。 |
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