標題: 12/3 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing [打印本頁] 作者: chip123 時間: 2007-11-14 03:29 PM 標題: 12/3 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (MTDT)
Grand Formosa Regent Taipei December 3-5 (Mon.-Wed.), 2007, Taipei, Taiwan http://IEEE-MTDT.org
由國際電機電子工程師學會（IEEE）所成立的第十七屆『記憶體製程、設計、與測試會議』 （IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing），今年將於96年12月3至5日假台北晶華酒店 (Grand Formosa Regent Taipei) 舉行，由弟與ITRI STC吳主任擔任大會共同主席，周世傑教授擔任議程主席，會議網址 http://www.ieee-mtdt.org .
此項會議成立已十七年，一向由美國所主導，幾乎每年都固定在矽谷 San Jose 舉行，近幾年已在台灣舉行，因為議程完全聚焦在半導體記憶體的技術，因此常常可以吸引許多頂尖的業界朋友和學術界的研究人員來此發表先進的學術論文、技術成果、與產品。除此之外，我們也將於會議中安排數場前瞻趨勢演講，邀請世界頂尖的學者專家來擔任講員，針對先進的記憶體技術，提供一個系統化而詳盡的介紹。我們也同時邀請國內相關產業的研究人員與我們分享產業趨勢與研發重點。