標題: Synopsys捐贈Variation-Aware Extension技術給IEEE [打印本頁] 作者: jiming 時間: 2007-3-8 10:31 AM 標題: Synopsys捐贈Variation-Aware Extension技術給IEEE 國際電機電子工程學會(IEEE)的1481工作小組最近通過新思科技(Synopsys)的一項提案,針對 IEEE所採用的標準寄生交換格式(Standard Parasitic Exchange Format, SPEF),Synopsys捐贈重要技術以擴充SPEF功能,此舉將協助設計業者有效因應65奈米或更先進製程中,常遇到的製程與溫度變異等問題。 S: S3 t- x8 M2 L9 `( a
' \3 s! }' K% n8 B. j 在這項提案中,Synopsys將提供一項互通的介面(common medium),以便不同的EDA工具之間,也能傳遞重要而敏感的寄生訊息(sensitivity-based parasitic information),同時Synopsys提供的key extensions,也可精準而確切地表達出先進製程中所需的互連寄生敏感度訊息(interconnect parasitic sensitivity information),強化現有的IEEE standard 1481-1999之SPEF功能。 在1481工作小組通過後,IEEE的Standard Board 可望於近期內投票,以決定將此次Synopsys所提供的SPEF extension,正式納入SPEF標準(standard)當中。 - }/ H0 F4 o& q, V0 l5 `/ H" R' x6 @' U$ d! o; f
科技應用產品逐漸走向輕、薄、短、小,對IC設計者的挑戰也日益增加,尤其在互連架構中常遭遇的隨機製程變異,如何能精確而有效的建立模型(modeling),已成為設計過程中必要的程序。析出(extraction)與分析(analysis)工具使用統計技術(statistical techniques)來建立模型,而針對物理與電子流程中之參數(physical and electrical process parameters)相關的互連寄生(interconnect parasitics)需要具有高敏感,才能有效而精確地進行統計分析。' L* ~2 W) o/ R: q6 r
! ]) U6 w% ^6 l2 V |4 y, V& ~ 制定一套以敏感度為基礎的SPEF格式標準(A standard sensitivity-based SPEF format),可協助寄生析出(parasitic extraction)設計工具,建立具寄生面值(nominal values)的排線表列(netlist),並且對互連變異參數(interconnect process parameters)高度敏感,因而可以更為容易地供分析、模擬,及實作執行(implementation)等方面的工具讀取。1 ~4 Z: z. u/ a) b