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標題: 請教兩個關于ESD的問題 [打印本頁]
作者: hvpower    時間: 2008-11-29 11:40 AM
標題: 請教兩個關于ESD的問題
第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？7 \9 U+ [7 C, l! c4 b. d
第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
作者: andyjackcao    時間: 2008-12-2 09:21 PM
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表
; \; F$ [( n( ?, V" U第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？
. l# d9 {9 z* m! r; g第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...
) E* L3 C: G; g8 `" A' e7 o9 |

. t$ z: S4 _8 S( b我是这样理解的：
) ~, m) U7 U( X# }/ @2 d& b第一個：输出PAD也要做ESD保护，否则这个NMOS管也容易损坏, s5 i. Q9 T1 q* Z' s( n& [! q
第二個：这是根据ESD测试标准来测试的，引脚由我们提供，测试公司只负责测试；
( G# ?% ~& I) h        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了，不需要每个都测试；
作者: alai    時間: 2008-12-11 01:56 PM
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电，测试时，任意两个引脚之间都应该进行放电测试，每次放电检测都有正负两种极性，所以对I╱O引脚会进行以下六种测试：1 V- l0 W, o0 C" B% i0 ~) j" P' {
1) PS模式：VSS接地，引脚施加正的ESD电压，对VSS放电，其余引脚悬空；& k9 {5 M7 ~: S7 D/ k5 @$ F
2) NS模式：VSS接地，引脚施加负的ESD电压，对VSS放电，其余引脚悬空；; H' D) R' }* I$ _3 @' P& l
3) PD模式：VDD接地，引脚施加正的ESD电压，对VDD放电，其余引脚悬空；5 d2 j* Y. f' q) j. r" ?
4) ND模式：VDD接地，引脚施加负的ESD电压，对VDD放电，其余引脚悬空；
6 g( g7 P0 d% [+ r+ p5) 引脚对引脚正向模式：引脚施加正的ESD电压，其余所有I╱O引脚一起接地，VDD和VSS引脚悬空；
6 k8 r% w! N8 f$ v6) 引脚对引脚反向模式：引脚施加负的：ESD电压，其余所有I╱O引脚一起接地，VDD和VSS引脚悬空。
  B- }' Q- F5 O% L  T. A3 UVDD引脚只需进行(1)(2)项测试1 k+ U7 b" D  T% C" I% M

8 M& \- m! |5 E1 }! d应该是one by one 的测试，管脚多的话，排列组合就多，很费时的。
作者: winter_dm    時間: 2008-12-11 01:57 PM
第二个：ESD测试都是有参考引脚的，也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的，而是相对于某个引脚的ESD电压，通常是对电源和地。因此，ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型，如HBM,CDM等
作者: hvpower    時間: 2008-12-22 01:50 PM
THANK YOU  ABOVE  
作者: csleea    時間: 2008-12-22 06:30 PM
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
作者: wesleysung    時間: 2010-1-12 06:22 PM
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路
/ q9 t0 Q# [' x5 o% I# G) \. x2.每隻針腳都要測試　一根一根來你可以看JEDEC standard　
作者: xiangxianga396    時間: 2010-1-20 04:17 PM
回復 7# wesleysung
6 T7 _* Z; W, J, Q# d5 [- m3 u& ~, }( e. o3 S& W: f$ h
第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？! v3 D5 z0 R. M- p1 D
) E, y" f0 p9 j% ~
每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护，无论是input,output,power pad.
" l% T5 @: l3 N( g! }% m+ A9 y; w/ m4 [
第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。
: z3 [8 u! b. [3 w: R! P" R; c% m; `
只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。
. D$ J7 F/ f0 E! {. x5 Y每一个power pad VS. 每一个power pad;
: m8 r* N; ?0 t% \& y每一个I/O pad VS. 每一个power pad;- a7 g; @+ F4 D* h" s: K$ S+ _
每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
作者: tacopippen    時間: 2010-1-20 06:45 PM
看了這些文章7 L/ z. M$ ]2 m  a* J8 y
對esd protection又有進一步的認識了
作者: wangdali163    時間: 2013-7-15 05:11 PM
每测一次，都要换新的IC吗？



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