Chip123 科技應用創新平台

標題: 12/3 2014新一代無線通訊應用研討會暨互通性測試大會 [打印本頁]

作者: globe0968    時間: 2014-11-26 08:09 AM
標題: 12/3 2014新一代無線通訊應用研討會暨互通性測試大會
[attach]20660[/attach]
$ W0 j% U: |  f4 Q+ @! f4 M* H
0 }6 @" D/ W: i隨著無線通訊技術與行動裝置市場的快速發展與演進,使用者對於隨時連網的需求也與日俱增,大量多媒體資訊檔案的傳輸與分享,更直接帶動整體無線通訊應用領域的新一波技術需求。面對此一趨勢,身為領航全球科技產品驗證機構與認證測試實驗室的百佳泰,特別與經濟部通訊產業發展推動小組、財團法人資訊工業策進會以及TEEMA資通訊產業聯盟合作,聯合舉辦「新一代無線通訊應用研討會暨互通性測試(Plugfest)大會」,旨為使台灣廠商在相關產業技術能量能與國際接軌,並加強台灣廠商間之互動合作,進而提高無線產品、技術間的相容性與互通性。3 N  W$ M& k, J# V

& x2 ^# Q7 y3 @1 T5 G3 L活動現場將以新興無線通訊技術為主軸,除以無線技術前瞻思維來闡述Miracast、Z-Wave與HTC Connect等三大無線通訊技術的產業趨勢與技術發展外,更提供廠商機會難得的Miracast與Apple AirPlay等產品互通性測試體驗。透過數位內容的傳遞、接收、分享與共享的過程中,掌握無線網路如影隨形的使用情境與測試需求,讓與會廠商能更深入瞭解各項熱門技術要點,盼凝聚整體無線產業的共識,一同攜手打造最優化的無線通訊應用,邁向多屏共享的裝置連結新世代。/ [0 \& @8 s0 d# w5 u

" b8 f% I, @  e# e. _◎ 活動基本資料1 d# H9 c( S3 h( a$ u

" |' k2 M7 B7 V! H& c! _主辦單位:        經濟部通訊產業發展推動小組# X; P0 R9 F* d! @0 ^; y! m
協辦單位:        百佳泰股份有限公司、財團法人資訊工業策進會、TEEMA資通訊產業聯盟
- s1 N; W9 l' `" t8 n活動時間:        2014年12月3日(星期三)09:30am-17:00pm& e7 o# V; }. }$ ~  m) T3 ~
(詳細互通性測試時段將在活動前個別寄送通知)& s4 y' @9 D/ ~2 s( q
活動地點:        台北世界貿易中心南港展覽館會議室 504 b+c會議室
% h7 c$ q/ O4 n3 s  [! n1 N活動地址:        台北市11568南港區經貿二路1號MAP
3 l% w  E) E2 X% A0 l' S報名費用:        研討會-免費參加( m/ ]7 j2 X) _/ n
互通性測試大會-僅限受邀VIP客戶參與(如欲報名,請逕洽百佳泰各業務)0 R: H- N2 g, |  [) ?2 ~
聯繫窗口:        如有任何疑問,請連繫 seminar@allion.com
作者: globe0968    時間: 2014-11-26 08:10 AM

時間 Time

議程 Agenda

演講者 Speaker

09:00-0930

報到

& T+ }4 r, E2 S! t

7 W! }& [  d- n! q! Z# i
09:30-10:00

Z-Wave創新應用與發展概況

* H) \1 I; s, }; E, |
黃鐘毅
2 S! x' J# P( g' [& J市場行銷暨技術支援經理
* |) j( f, }' k* n  v香港商芯盟科技股份有限公司台灣分公司

10:00-10:30

HTC Connect 生態系統與認證計畫介紹


; c8 o6 l! D1 y# C張廣浩 0 U3 I% e) T; X% P
合作夥伴管理暨事業開發經理
: R$ i/ g. F) z( \4 ~宏達國際電子股份有限公司

% ?# @  y% }4 o
10:30-10:40

中場休息


. U+ D3 o0 f% {; I' }3 o


/ C1 {7 c+ t& @& T10:40-11:10

Miracast相容性、
8 y- @& {5 M9 _. [/ |互通性驗證重點與情境式測試實例分享

# T5 E( c9 K7 q) G5 p+ p$ I; C. g
陳明鴻
* d& o' ~& c9 U/ x# K) B' p業務經理0 k9 B; ]+ y" N( P
百佳泰股份有限公司


$ [* A3 g( f" ?0 v% W, j3 U11:10-11:30

技術問答Q&A/研討會結束

, Q/ v$ k5 W$ Q


# F: D9 k( n$ e, ]( K: o8 \11:30-12:00

產品互通性測試流程說明與測試環境配置

( C" u4 n$ C7 E9 Y

  h; g, T# I/ e9 B2 I* y- p# D( }5 U
12:00-13:00

午餐

4 ~& I- o0 R& F( `

# }2 G" A, O" |2 D
13:00-13:30

互通性測試時段A


2 c1 f6 t  P; z6 U# q; p& Q


4 Y4 o0 T; ~% _- _$ K! _' Z13:30-14:00

互通性測試時段B

' G2 ]0 w9 }& ?


0 H  [, m% q* q. }; Z1 E( ~14:00-14:30

互通性測試時段C


0 ]; O/ d; I- T5 Z8 ~, H2 T


6 g1 }9 i$ [! [- N  r# i/ X; m14:30-15:00

互通性測試時段D


* @- ]6 y# z! E7 o  r1 x


% }2 {$ J( R7 p; S$ f# Q15:00-15:30

互通性測試時段E

- K9 C  Y3 D; O- t2 E) d$ u


/ n3 v. T1 J" J) Z1 c15:30-16:00

互通性測試時段F

. F* x1 W: f2 E1 A

# q( z) j$ |, M
16:00-16:30

互通性測試時段G

7 r$ P2 y7 U( J0 M: D


) N  H3 G9 ?6 |) x$ [$ ?# J& O6 W7 G16:30-17:00

互通性測試時段H

( K5 y  @! `( k7 s, l* i

, N2 P1 J( ~7 m1 E% P+ K
17:00-17:30

技術交流Q&A/活動結束

2 n% m% w: [+ x: a8 G





歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/) Powered by Discuz! X3.2